基于边界扫描的DFT指南第二部分

"《Guidelines for Board Design For Test (DFT) Based on Boundary Scan Part 2》是由Ben Bennetts，DFT顾问为ASSET InterTech公司于2006年4月准备的一份文档，主要关注基于边界扫描（JTAG）的板级测试第二部分的指导原则。这份文档是两部分系列的第二部分，依据IEEE 1149.1-2001标准，为主要利用边界扫描或JTAG进行测试的电路板提供DFT指南。文档还提到了作者Ben Bennetts在边界扫描技术、国际JTAG和SJTAG核心小组、IEEE板级测试研讨会以及其他相关组织中的贡献和领导地位，他在测试和DFT领域有超过100篇论文和三本书的出版记录。" 本文档是关于基于边界扫描的板级设计测试（DFT）的实践指南，特别关注如何利用JTAG（联合测试行动组）技术进行有效的测试。JTAG是一种通用的接口，允许对电子设备的内部测试结构进行访问，特别是在半导体和电路板级别。IEEE 1149.1-2001标准定义了边界扫描架构，这是JTAG的核心，它允许通过外部接口控制芯片内部的测试逻辑，从而在不拆卸组件的情况下检查和修复电路板上的连接。 在第二部分中，文档可能涵盖了以下关键知识点： 1. **边界扫描原理**：解释了边界扫描链的概念，它是如何在各个IC之间形成一个测试路径的，以及如何通过这个链来验证和诊断连接问题。 2. **DFT策略**：介绍了如何在设计阶段考虑测试性，包括添加额外的硬件逻辑（如测试向量逻辑或TAP控制器）以提高测试覆盖率。 3. **测试计划与实施**：讨论了在电路板制造和生产测试过程中如何有效地利用JTAG，以及如何与传统的在系统编程(ISP)和功能测试相结合。 4. **故障检测与隔离**：阐述了如何使用JTAG进行故障定位，包括边界扫描数据的比较和分析，以及如何在没有物理接触的情况下进行故障隔离。 5. **测试成本优化**：探讨了如何通过DFT减少测试时间和成本，例如通过并行测试多个组件，以及通过减少手动测试的需求。 6. **JTAG工具的使用**：介绍了用于执行JTAG测试的工具，如测试访问端口(TAP)控制器软件，以及如何配置和操作这些工具以实现高效测试。 7. **SJTAG（系统JTAG）**：简述了SJTAG扩展了JTAG标准，允许更高级别的系统级测试和诊断，包括跨多个组件的测试协调。 8. **持续的DFT技术发展**：可能涵盖了边界扫描和JTAG技术的最新发展，以及如何将这些新技术应用到现有的DFT策略中。 作者Ben Bennetts的专业背景确保了这份文档的权威性和实用性，他的经验和专业知识为电路板设计师提供了宝贵的指导，帮助他们在设计早期阶段就考虑到测试的便利性和效率，从而提高产品的质量和可靠性。