TinaLinux D1存储性能测试指南：顺序与随机读写性能详解

本指南是针对Allwinner软件平台Tina v4.0和硬件平台D1的D1TinaLinux存储性能测试参考手册，版本号为1.0，发布于2021年4月7日，由AWA1046制作，属于珠海全志科技股份有限公司的内部资料，密级保密。该文档旨在提供关于TinaLinux系统下存储设备顺序读写和随机读写性能的测试方法、解读以及影响因素。 1.1 编写目的： 本指南的主要目的是为了帮助TinaLinux平台的客户和技术人员了解如何准确地评估存储设备的性能，包括顺序读写速度（如4.8M/s的读取和2.9M/s的写入对于MX35LF2GE4AD型号），以及随机读写性能（如919 IOPS的读取和425 IOPS的写入）。这些数据是基于特定的测试条件设定，如ubifs文件系统、lzo压缩算法、50%的随机数据模式，以及100MHz的CPU和DRAM频率等。 2. 经验性能值： 由于存储性能受多种因素影响，如闪存类型、制造商、型号和老化程度，提供的顺序和随机性能经验值仅作为参考，实际操作中可能有所差异。例如，对于D1硬件平台，采用spinand类型的MX35LF2GE4AD，顺序读写速度在特定条件下能达到4.8M/s和2.9M/s，而随机读写性能则分别达到919和425 IOPS。 3. 测试方法： - 顺序性能测试：包括通过ubifs文件系统、lzo压缩、50%随机数据比例以及四线并行读写来测量存储设备的连续读写能力。测试时CPU和DRAM频率被设置为1440kHz和792MHz。 - 随机性能测试：同样采用ubifs和lzo压缩，但数据分布更随机，旨在模拟真实世界中的多任务场景，IOPS值以此衡量设备处理随机读写请求的能力。 4. 影响因素分析： - O_SYNC：操作系统同步选项可能影响性能，应根据应用需求调整。 - CPU调频策略：CPU频率对存储性能有直接影响，如性能调频策略可能导致性能提升或下降。 - 其他因素：包括但不限于存储设备的温度、电源管理设置、硬件老化等都可能影响存储性能。 总结，此文档提供了D1TinaLinux平台上存储性能测试的详细指导，对于优化存储配置、评估设备性能以及调试问题具有实际价值。用户在实际操作时，应结合实际情况调整参数，并理解各种因素对性能的具体影响。