SVM-DS融合方法:解决BPA难题与高铁故障诊断

PDF格式 | 514KB | 更新于2024-09-03 | 105 浏览量 | 3 下载量 举报
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"本文介绍了一种融合支持向量机(SVM)与Dempster-Shafer(DS)理论的决策融合方法,旨在解决信息融合分类中的BPA构造问题,并在高速铁路故障诊断中得到应用。该方法通过Platt概率模型将SVM的硬输出转换为概率输出,用混淆矩阵评估分类器的局部可信度,进而构建BPA函数,并通过DS融合做出最终决策。实验证明,这种方法能有效提升分类准确率。" 本文探讨的核心技术是支持向量机(SVM)和Dempster-Shafer(DS)证据理论的结合。SVM是一种基于结构风险最小化的机器学习模型,尤其适用于小样本学习,能有效避免过拟合和维度灾难。然而,SVM的原始输出为类别标签,不直接提供概率信息,这限制了其在信息融合中的应用。 为解决这一问题,Platt概率模型被引入,它允许将SVM的硬输出转换为后验概率,使得SVM的输出更具概率解释。文章中提到了三种不同核函数的SVM分类器:径向基函数(RBF)、线性和二次核函数,它们的输出通过Platt模型转化为概率形式。 此外,DS理论在信息融合中用于处理不确定信息,其关键在于基本概率赋值(BPA)的构建。传统的BPA构造方法存在挑战,而文中提出的新方法是基于SVM的后验概率和分类器的局部可信度。混淆矩阵在这里扮演了重要角色,它能量化分类器的性能,为每个分类器分配局部可信度。这些局部可信度结合SVM的后验概率一起,形成了BPA函数的基础。 通过DS融合,来自多个分类器的信息被整合,形成一个更可靠的决策。在实际高铁故障数据的应用中,这种方法展示了其有效性,提高了分类准确率,表明了该决策融合策略优于单一分类器。 该研究为信息融合提供了新的思路,通过SVM与DS理论的结合,解决了BPA构造难题,并在实际故障诊断中得到验证。这种方法对于处理不确定性和复杂性的分类问题,特别是在高精度需求的领域,如高铁安全,具有重要意义。

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基于STM32设计的数字示波器全套资料(原理图、PCB图、源代码) 硬件平台: 主控器:STM32F103ZET6 64K RAM 512K ROM 屏幕器:SSD1963 分辨率:480*272 16位色 触摸屏:TSC2046 模拟电路: OP-TL084 OP-U741 SW-CD4051 CMP-LM311 PWR-LM7805 -LM7905 -MC34063 -AMS1117-3.3 DRT-ULN2003 6.继电器:信号继电器 7.电源:DC +12V 软件平台: 开发环境:RealView MDK-ARM uVision4.10 C编译器:ARMCC ASM编译器:ARMASM 连机器:ARMLINK 实时内核:UC/OS-II 2.9实时操作系统 GUI内核:uC/GUI 3.9图形用户接口 底层驱动:各个外设驱动程序 数字示波器功能: 波形发生器:使用STM32一路DA实现正弦,三角波,方波,白噪声输出。 任意一种波形幅值在0-3.3V任意可调、频率在一定范围任意可调、方波占空比可调。调节选项可以通过触摸屏完成设置。 SD卡存储: SD卡波形存储输出,能够对当前屏幕截屏,以JPG格式存储在SD卡上。能够存储1S内的波形数据,可以随时调用查看。 数据传输:用C#编写上位机,通过串口完成对下位机的控制。(1)实现STOP/RUN功能(2)输出波形电压、时间参数(3)控制截屏(4)控制波形发生器(5)控制完成FFT(6)波形的存储和显示 图形接口: UCGUI 水平扫速: 250 ns*、500ns、1μs、5 μs、10μs、50μs、500 μs、5ms 、50ms 垂直电压灵敏度:10mV/div, 20mV/div, 50mV/div, 0.1V/div, 0,2V/div, 0.5V/div, 1V/div,2V/
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