ARM JTAG 调试原理详解：TAP 和边界扫描架构

"ARM.JTAG.调试原理" ARM.JTAG.调试原理是指基于ARM处理器的JTAG调试技术的原理和机理。JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的简称，IEEE1149.1标准是JTAG调试的国际标准。 在ARM.JTAG.调试原理中，TAP(TEST ACCESS PORT)和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE是两个核心概念。TAP是测试访问端口，BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE是边界扫描架构。TAP是ARM处理器中用于调试的接口，BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE是芯片边界上的寄存器单元，用于观察和控制芯片的输入输出信号。 在ARM.JTAG.调试原理中，TAP的主要功能是提供一个通用的测试接口，用于访问和控制芯片的寄存器和存储器。BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的主要功能是提供一个边界扫描寄存器单元，用于观察和控制芯片的输入输出信号。 IEEE Standard 1149.1-Test Access Port and Boundary-Scan Architecture是JTAG调试的国际标准，规定了TAP和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的实现细节。 ARM.JTAG.调试原理的应用非常广泛，包括ARM处理器的调试、测试和仿真等领域。通过ARM.JTAG.调试原理，可以实现对ARM处理器的实时调试和测试，提高了ARM处理器的可靠性和稳定性。 在ARM.JTAG.调试原理中，OPEN-JTAG开发小组提供了一个开源的JTAG调试解决方案，包括ARM处理器的JTAG调试原理、TAP和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的实现细节。 ARM.JTAG.调试原理的优点包括： * 实时调试和测试ARM处理器 * 提高ARM处理器的可靠性和稳定性 * 提供一个通用的测试接口 * 实现对ARM处理器的边界扫描和观察 ARM.JTAG.调试原理的应用领域非常广泛，包括： * ARM处理器的调试和测试 * 嵌入式系统的开发和测试 * 电子产品的设计和制造 * 计算机辅助设计和制造 ARM.JTAG.调试原理是ARM处理器的核心技术之一，广泛应用于嵌入式系统、电子产品和计算机辅助设计等领域。