抗混淆自适应测试算法：基于边界扫描技术的新解决方案

"基于边界扫描技术的抗混淆自适应测试算法 (2013年) - 钟春丽，张平，生拥宏，朱毅，曹凯" 本文主要探讨了在电子硬件测试领域，特别是在集成电路(IC)测试中，如何解决边界扫描测试(Boundary Scan Testing)中的征兆混淆问题。边界扫描技术是一种有效的测试方法，它允许在电路板级对IC进行测试，无需复杂的外部测试设备。然而，传统的快速测试算法在某些情况下会出现征兆混淆，导致测试效率降低和测试覆盖率不足。 作者们在深入研究多种测试算法的基础上，提出了一个创新的抗混淆自适应测试策略。他们首先分析了走步算法(Walking Algorithm)的基本特点，发现其在保持测试完备性的同时，存在效率不高的问题。因此，他们提出了一种走步算法的改进方案，旨在在不牺牲完备性指标的前提下，提升算法的紧凑性。这意味着测试向量的数量和复杂度将得到优化，从而提高测试速度。 接下来，为了进一步增强算法的性能，作者们结合了改良计数序列算法(Improved Counting Sequence Algorithm)。这种改良后的算法能够有效解决原计数序列算法中的征兆混淆问题。通过这种方式，新的自适应测试算法不仅极大地提升了测试的完备性，即能够检测到更多的故障模式，而且保持了良好的紧凑性，减少了测试数据的体积，降低了测试时间和成本。 论文中，作者们还可能详细讨论了算法的实现过程、实验结果以及与其他常见测试算法的比较。他们可能通过实例验证了新算法在实际应用中的优越性，并对其在工业界的实际应用前景进行了展望。这篇论文对于从事电子硬件测试、集成电路设计以及自动测试设备(Automated Test Equipment, ATE)开发的工程师和技术人员具有重要的参考价值。 这篇研究工作为边界扫描测试提供了一个新的解决方案，有助于提升测试效率，降低测试成本，同时确保了高测试覆盖率，这对于现代电子产品的质量控制和故障排查至关重要。