提高精度：基于纯三角函数的正弦波磁光调制方位失调角测量新方法

本文主要探讨了基于正弦波磁光调制的方位失调角精确测量方法。传统基于这种技术的测量系统往往因为采用省略高阶项的贝塞尔函数来表示磁光调制后的信号，导致信号截断误差和方法误差的产生，从而限制了测量精度。这些误差来源于对复杂调制过程的简化处理，使得实际测量结果与理论值之间存在偏差。 作者针对这一问题，深入分析了传统测量原理，认识到通过仅保留纯三角函数表达形式，可以消除理论误差，构建出一种全新的方位失调角测量模型。新模型的优点在于它能够更准确地反映磁光调制的真实特性，从而提高测量的精度。作者通过仿真验证了这个新模型的有效性，结果显示，与传统方法相比，基于新模型的系统测量精度有显著提升。 这项研究对于理解和优化基于正弦波磁光调制的方位失调角测量系统具有重要意义，不仅提供了改进现有系统设计的理论依据，也为提高精密测量设备的性能，尤其是在军事和科研领域中的定位和导航系统，提供了实用的技术支持。此外，该研究还对信号处理和控制工程中的误差分析、信号模型选择以及测量系统的优化设计提供了有价值的参考。这项工作在提升测量精度，特别是在高精度测量环境下的应用方面，具有显著的实际价值。