FCD600N60Z-VB:低导通电阻N沟道MOS场效应管

0 下载量 200 浏览量 更新于2024-08-03 收藏 425KB PDF 举报
"FCD600N60Z-VB是一种N沟道MOS场效应晶体管,采用TO252封装,适用于电源管理、开关模式电源、功率因数校正电源以及各种照明应用,包括高强度放电灯和荧光灯镇流器。这款器件以其低的导通电阻、低输入电容、减少的切换和传导损耗以及雪崩能量评级等特点而设计,适合在工业环境中使用。" FCD600N60Z-VB是一款高性能的N沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET),主要特点是其优良的电气特性。首先,它的低 figure-of-merit (FOM),即 Ron x Qg,意味着在工作时它具有较低的导通电阻(Ron)与栅极电荷(Qg)的乘积,这有助于降低功耗和提高效率。低输入电容(Ciss)则减少了开关过程中产生的电荷存储效应,进一步降低了开关损耗。 此外,该MOSFET设计了超低的栅极电荷(Qg),这有利于快速开启和关闭,减少了开关时间,提高了系统的切换速度。同时,它具有雪崩能量评级(UIS),意味着它能够在规定的条件下承受短时过电压而不会损坏,增强了其耐冲击能力。 在应用方面,FCD600N60Z-VB广泛用于服务器和电信电源供应、开关模式电源(SMPS)、功率因数校正电源,以及各种照明解决方案,如高亮度放电灯(HID)和荧光灯照明系统。在工业环境中,这种MOSFET的稳定性和可靠性尤为关键,它能够承受恶劣的工作条件。 对于绝对最大额定值,FCD600N60Z-VB的源漏电压(VDS)最大为650V,栅源电压(VGS)允许的峰值为±30V。在25°C时,连续漏电流(ID)的最大值取决于温度,例如在100°C时会线性下降。脉冲漏电流(IDM)和单脉冲雪崩能量(EAS)也有相应的限制,以确保器件在工作时的安全。 FCD600N60Z-VB是一种高性能、高可靠性的N沟道MOSFET,其优化的电气特性和广泛的应用范围使其成为电源和控制电路的理想选择。在设计电路时,应根据具体应用的参数和条件来正确选用和评估这款器件。