可延展通用互连结构的电学特性研究及其高频性能验证

本文研究了"可延展通用互连结构电学特性研究"这一主题，主要关注于在电路设计中如何确保信号完整性，这是一个关键的考量因素。研究者利用了有限元法进行频域分析，探讨了频率和结构形变对可延展通用互连导线回波损耗和插入损耗的影响。他们通过建立电路模型，进一步进行了时域分析，以考察这些因素对导线两端口输出电压的具体影响，从而验证了频域分析的结果。 论文的首要任务是设计一种能够适应变形的通用互连结构，这种结构对于高速电子设备至关重要，因为信号完整性在高速数据传输中不容忽视。通过对不同频率条件下的性能测试，研究发现，所提出的可延展通用互连结构在特定的高频环境下展现出优秀的电学性能，这为设计具有弹性的、适用于各种环境变化的电路提供了有价值的参考依据。 作者们来自桂林电子科技大学机电工程学院，其中潘开林博士作为主要负责人，他与王文惠硕士研究生（专注于可延展电子的研究）、范凯和龚似明一起合作进行这项研究。研究得到了国家自然科学基金项目的资助（项目编号61474032），并提交的时间是2018年9月25日。 这篇论文的关键词包括"可延展电子"、"通用互连结构"、"形变"、"频域分析"和"时域分析"，以及"电学特性"，这些都是深入理解研究核心内容的关键术语。该研究不仅有助于提升电子设备的性能和可靠性，也为相关领域的理论发展和实际应用提供了新的视角和方法。中图分类号O342和O343.1代表了该研究在图书馆学分类中的位置，文献标识码A表示文章类型，而文章编号1001-2028（2018）S1-0065-05则是论文在学术期刊上的唯一标识。总体来说，这篇研究论文对于理解可延展电子技术在现代通信和电子设备中的重要角色具有很高的学术价值。