AOI光学测试中的B規範化處理與模式對比

"AOI光学测试，B规范处理过程，模式对比处理，机器视觉，PCBA测试，自动光学检测， AOI技术员职责，AOI算法，光源系统，TopLight，SideLight，图像分析，Black/White算法" AOI(Automatic Optical Inspection)是一种广泛应用在电子制造中的自动检测技术，主要用于检查PCBA(Printed Circuit Board Assembly)的缺陷，如漏料、偏移、极性错误、短路、反面问题、墓碑效应、侧立、假焊、少锡和氧化等。通过高精度的机器视觉系统，AOI设备能够自动识别并报告这些潜在问题，逐渐替代了人工目检，提升了生产自动化水平。 B规范处理过程在AOI中起到关键作用。当PCB的亮度存在差异时，元件的亮度也会有所不同，这就需要进行规范化的处理，将元件的亮度范围扩展到0-255的全亮度范围。处理过程中，主要目标是移动主图像，使其与被检测图像之间的灰度差最小，以此确保对比度最佳。灰度差小意味着两幅图像相似，而灰度差大则表明图像不相似。 模式对比处理是AOI的另一重要步骤。在此阶段，会将待检测图像与已知的主图像叠加，并在预设的搜索范围内移动主图像，以寻找最佳匹配，从而准确识别出潜在的缺陷。 在AOI系统中，光源系统至关重要。TopLight和SideLight是两种主要的光源类型。TopLight使用顶部光源照亮PCBA，形成黑白或二进制图像，有助于识别锡点的质量，如锡点的好坏。SideLight则利用侧面光源照明，特别是在无料或有缺陷时，能提供更丰富的彩色图像信息，增强检测效果。 Black/White算法是AOI中的图像处理方法，用于计算图像内明亮区域的比例，依据设定的亮度范围来判断是否存在物料或缺陷。这个算法通过对二进制图的分析，来确定元件的检测状态。 此外，AOI技术员的工作职责包括编制AOI程序，对设备进行验收和维护保养，以及利用AOI设备进行PCBA的测试。AOI算法的深入理解和应用是保证检测精度和效率的关键。 AOI光学测试是一个综合性的过程，涉及图像处理、光源设计、算法运用等多个环节，旨在提高电子产品的质量控制和生产效率。