微透镜阵列在重金属离子检测中的应用：一种新型光寻址电位阵列传感器

"基于微透镜阵列的重金属离子阵列传感器研究 (2008年)" 本文主要探讨了一种创新的传感器技术，用于同时检测溶液中的多种重金属离子。这项研究发表于2008年的浙江大学学报(工学版)，属于工程技术领域的论文，涉及到的关键技术包括微透镜阵列、光寻址电位阵列传感器和脉冲激光沉积。 微透镜阵列是该研究的核心组件，它能将单一激光束转化为激光点阵，以此作为光寻址电位阵列传感器（LAPS）的光源。光寻址电位阵列传感器是一种高灵敏度的检测工具，特别适合于化学和生物学分析。通过在LAPS表面上利用脉冲激光沉积（PLD）技术，研究人员成功地制备了Cu²⁺、Cr⁶⁺、Pb²⁺和Fe³⁺四种重金属离子的敏感薄膜。这一过程允许传感器对特定离子做出响应，因为不同的离子会与薄膜材料发生不同的相互作用。 LAPS阵列由4x4个单元组成，每个单元对应一种特定的重金属离子。这种设计使得传感器可以同时检测这些离子的存在，而无需分别进行单独的测试。实验结果显示，该LAPS阵列传感器能够准确检测浓度范围在10⁻⁵至10⁻³mol/L的Cu²⁺、Cr⁶⁺、Pb²⁺和Fe³⁺混合溶液，展示了其在重金属离子检测中的高效性和并行性。 这项工作对于环境监测、水处理和工业污染控制等领域具有重要意义，因为它们常常需要快速、准确地检测多种重金属离子。此外，这种基于微透镜阵列的传感器技术也为未来开发更多元化的化学和生物传感器提供了新的思路，有望进一步提升检测的精度和效率。 关键词：重金属离子检测；光寻址电位阵列传感器；微透镜阵列 通过这项研究，我们可以了解到微透镜阵列如何增强传感器的功能，以及如何通过PLD技术实现特定离子的敏感薄膜制备。这不仅揭示了新型传感器技术的潜力，还为后续研究者提供了开发更复杂、更高效传感器的理论基础和技术途径。