超高速ADC电路研究：数字部分与输出缓冲设计

"ADC技术在高速数据处理中的重要性日益凸显，尤其在超高速ADC电路设计中，输出缓冲电路是关键的一环。本章节探讨了全并行ADC中数字电路部分的设计，包括输出缓冲器的选用和设计。由于实际测试的需求，需要通过焊盘和探针连接到逻辑分析仪，而这些组件的寄生参数大，因此需要增加输出缓冲器以驱动这些负载。本设计中，选择了反相器级联作为缓冲器，最后一级反相器的尺寸放大，确保在50Ω负载下输出电流约10mA，以满足2.5GHz信号的测试需求。 此外，该研究还涉及到了高速时钟缓冲电路的设计，提出了单相传输、双相输出的可调双相时钟树电路，能够校正工艺偏差和占空比失真，提供高速双相时钟驱动。在编码电路部分，对格雷码和二进制编码进行了深入对比，特别是从误差、功耗和规模角度进行了详细分析。为适应高速编码，设计了一种结合二进制分段编码和逻辑转换的电路，旨在减小寄生参数的影响，实现超高速条件下的二进制编码。 全文还涵盖了高速比较器电路的研究，揭示了高速比较器中的门限限速效应并提出了相应的解决方案，有助于提高比较器速度和降低功耗。同时，对分压电阻网络、高速采样保持电路和火花码消除技术进行了研究，这些研究成果为构建高性能的超高速ADC提供了基础。" 这篇文献出自东南大学，作者在导师的指导下，对ADC技术，尤其是全并行ADC的数字电路部分进行了深入研究，涵盖了从基础原理到具体电路设计的多个层面，旨在推动超高速ADC技术的进步。