RTL测试中断言重用方法加速自动测试模式生成

本文主要探讨了一种在RTL（Register Transfer Level，寄存器传输级）测试模式生成中有效利用断言的方法，针对的是非扫描设计（non-scanning designs）的制造业测试。在设计的功能验证过程中，断言作为一种重要的错误检测工具，通常用于发现设计中的错误。然而，在常规的自动测试模式生成（Automatic Test Pattern Generator, ATPG）流程中，断言的处理可能消耗大量搜索空间，导致测试生成速度变慢，且可能无法覆盖所有潜在故障。 作者们提出的解决方案是在RTL级别对断言进行再利用，目的是减少ATPG的搜索空间，从而提升测试模式生成效率。这种优化策略允许ATPG更专注于关键路径和可能存在的问题，从而提高故障覆盖率，确保设计的质量和完整性。这种方法的优势在于，通过预先验证过的断言可以直接应用于测试模式中，减少了重复工作，使得测试策略更加高效。 论文首先介绍了断言在功能验证中的基本作用，然后详细阐述了他们所提出的特定方法，包括如何将断言适配到RTL测试环境，以及如何在ATPG算法中整合这些断言。通过一个具体的案例研究，作者们展示了这种方法的可行性，并且通过实际数据展示了其在测试生成速度和故障覆盖率方面的提升效果。 关键词包括：RTL、ATPG、断言和非扫描设计，表明了研究的重点领域。此外，文章引用了《中国图书馆分类法》（CLC number: TP302.8），说明该研究属于计算机科学与技术类文献，文档代码为A，期刊编号为1000-5137(2010)05-D441-07，表明这是一篇2010年10月发表在上海师范大学学报（自然科学版）的科研论文。 总结来说，这项研究对于提高现代集成电路设计测试效率和覆盖率具有实用价值，尤其是在面对复杂和大型设计时，通过断言的再利用可以显著简化测试流程，减少开发时间和成本。这对于电子工程师和测试工程师来说，无疑是一项值得借鉴和实践的技术改进。