静电放电危害电子产品：元器件静电防护与可靠性

静电放电（ESD）是电子元器件可靠性系统工程中的一个重要问题，它可能导致电子设备失效，尤其是在元器件的使用、处理和储存过程中。静电放电损害实例表明，即使在筛选测试合格后的CMOS电路，如果未采取适当的防静电措施，也可能因静电荷传递导致器件失效，表现为输入漏电流增大。同样，双极型器件如高频晶体管也可能因ESD而受损，尤其是那些敏感的浅阱结构器件，它们可能在反向电压较低的情况下因静电放电而损坏。 提高电子整机的可靠性不仅要依赖于设计，还应注重元器件的选择、控制以及使用。据统计，元器件使用方面的失效占电子整机失效的50%左右，这要求从整机研发阶段就对元器件进行严格的管理，确保整机的可靠性。电子元器件的可靠性分为固有可靠性和使用可靠性，前者是基础，而后者则与元器件的实际应用环境密切相关。 元器件的选择与控制是保证使用可靠性的关键环节。这涉及到对元器件的性能参数、制造商资质、生产工艺和历史表现的全面评估。此外，元器件筛选技术是确保元器件符合整机系统要求的重要手段，通过筛选可以剔除早期失效的元器件，提高整机的平均无故障工作时间（MTBF）。 对于微电子器件，如MOS和双极型晶体管，需要特别关注其抗ESD能力。这些器件往往在制造过程中采取特定的防静电措施，但在使用和组装过程中仍需避免静电放电事件。例如，使用防静电材料包装，操作人员佩戴防静电手环，以及工作台面的防静电处理等。 阻容元件和其他电子元件也需遵循同样的防静电规则。电阻、电容等元件虽然通常被认为比半导体器件更耐静电，但过度的静电放电仍然可能破坏它们的绝缘层，影响其性能。因此，无论元件类型如何，都需要实施有效的防静电措施。 在现代质量观念中，质量不仅仅是产品或服务满足需求的能力，还涉及整个生产和服务过程的管理。元器件的质量控制不仅包括了出厂检验，还涵盖了供应商管理、过程控制和持续改进。通过运用ISO质量管理体系标准，企业可以建立一套完善的元器件质量保证体系，以降低元器件使用过程中因静电放电等引起的失效风险，从而提升电子整机的可靠性。