并行输出节点反相器链消除单事件瞬态脉冲

"这篇研究论文提出了一种带有并行输出节点的反相器链设计，旨在消除单事件瞬态脉冲。通过结合并行输出节点结构和隔离布局方法，该设计能够有效地抑制单事件瞬态（SET）脉冲。与传统反相器链、源隔离方法的反相器链以及带有C元素的重复反相器链相比，仿真结果显示，所提出的反相器链表现出更有效的改善效果。" 正文: 在电子系统中，单事件瞬态（Single-Event Transient，简称SET）脉冲是一种由于辐射粒子撞击半导体器件引起的短暂电流脉冲，可能导致系统误操作或故障。SET现象在航空航天、核能以及高海拔地区的电子设备中尤为关注，因为这些环境中的辐射水平较高。为了解决这一问题，这篇论文由来自中国安徽大学、复旦大学微电子系和上海高性能集成电路设计中心的研究团队共同发表，提出了一种创新的反相器链设计。 该设计的核心是并行输出节点，其目的是提高系统的抗辐射能力。传统的反相器链在受到SET事件影响时，可能会产生不可忽视的瞬态电压变化，导致逻辑状态翻转。而通过并行输出节点的结构，可以分散和减小这种脉冲的影响。同时，设计还结合了隔离技术，以进一步减少脉冲的传播和放大。 源隔离方法通常用于降低相邻电路之间的串扰，但在抑制SET脉冲方面可能效果有限。论文中提到的并行输出节点设计则通过增加冗余路径，使得SET脉冲在多个输出节点之间分散，降低了脉冲在单一节点上的峰值电压，从而提高了整个系统的稳定性。 此外，论文还对比了该设计与其他方法，如使用C元件的重复反相器链。C元件是一种常用于抑制噪声和瞬态信号的电路元素，但与并行输出节点结合的反相器链相比，其在消除SET脉冲方面的性能可能不如前者。通过仿真结果，研究者证明了所提方案在抑制SET脉冲方面的优越性，这为高辐射环境下的电子系统设计提供了新的思路。 这篇论文的工作对于提升电子设备在恶劣环境中的可靠性具有重要意义。通过并行输出节点的创新设计，研究人员成功地提出了一种有效对抗SET脉冲的方法，这对于未来航天、军事和核能领域的电子系统设计将起到积极的推动作用。