二维覆盖表生成算法：快速构建两两组合测试用例

"快速生成两两组合测试用例集算法 (2011年) - 研究了二元待测系统的最优二维覆盖表构造，提出了一种快速生成二维覆盖表的算法，适用于一般待测软件系统。该算法基于二元系统的基本块和约简块，通过替换生成所有可能的取值组合，时间复杂性为O(klogk)，适用于大规模系统。同时，算法具有分层性，有助于错误定位。给出了两两覆盖表的数学上界，实验验证了算法的有效性。关键词包括组合测试、两两组合测试、覆盖表和测试用例生成。" 本文主要探讨了如何快速生成两两组合测试用例集，这是一种用于软件测试的方法，旨在确保所有可能的两个因素的组合都被覆盖到，从而提高测试的覆盖率。首先，作者关注的是二元待测系统，即系统中有两个独立的因素可以取不同的值。他们研究了最优二维覆盖表的构造，这是为了覆盖所有可能的二元组合。 提出的算法分为以下几个步骤： 1. 对于二元系统，生成基本块B(0,1)和约简块R(0,1)。这些块代表了所有可能的取值组合及其对应的测试用例。 2. 针对每个可能的取值组合对(a,b)，算法通过替换方法生成对应的基本块B(a,b)或约简块R(a,b)。 3. 最后，将所有生成的块累加起来，形成完整的二维覆盖表。这确保了所有可能的两两组合都被包含在内。 当系统是二元系统时，该算法能够生成最优的覆盖表。而且，如果每个因素的可取值数量较小，算法的性能表现更优。算法的时间复杂性为O(klogk)，其中k为待测系统的因素数目。这意味着即使面对因素数量较大的系统，算法也能迅速生成测试用例集。 此外，算法的分层特性对于后续的错误定位非常有帮助，因为可以逐层排查问题，减少了定位错误源的难度。论文还给出了两两覆盖表的数学构造性上界，这个上界与因素的数量呈对数阶增长，提供了理论上的参考。 最后，作者通过实验验证了该算法在实际应用中的有效性。这些实验结果进一步证明了该算法在减少测试用例数量的同时，能够保证测试的全面性，是组合测试领域的一个有益贡献。