两阶段程序频谱法：精简缺陷定位时间

本文主要探讨了"基于程序频谱的两阶段缺陷定位方法"，针对软件质量保证中面临的关键挑战——高成本的人工缺陷定位，尤其是在大型复杂软件系统中效率低下的问题。传统的基于程序频谱的缺陷定位技术虽然能将缺陷定位到具体的程序语句，但其耗时较多。为了优化这一过程，研究者提出了一个创新的两阶段定位策略。 首先，粗粒度定位阶段作为第一阶段，利用程序频谱分析技术，对软件系统进行模块级别的划分，将缺陷定位到特定的功能模块，而非具体的代码行。这一步骤大大减少了定位范围，提高了定位效率。 其次，第二阶段为细粒度定位，对已经定位到的模块进行进一步的深入分析，将缺陷精确地定位到具体的代码语句。这一阶段通过更精细的分析，确保了定位的准确性，同时降低了定位的时间消耗。 整个过程结束后，该方法会生成一个可疑语句推荐列表，这个列表包含了可能存在问题的语句，极大地辅助了开发人员的调试工作。实验结果表明，与传统方法相比，这种两阶段定位方法在保持定位效果的同时，平均节省了10.24%的定位时间，显著提升了软件缺陷定位的效率。 这项研究得到了国家自然科学基金项目的资助，由伍佳、洪玫等多位研究者共同完成，他们的研究方向涵盖了软件质量保证、测试用例分析以及软件调试等多个方面。论文的关键词包括缺陷自动定位、程序频谱、测试用例和软件调试，体现了作者们对自动化缺陷检测技术的深入理解和应用。 本文的核心贡献在于提出了一种有效优化软件缺陷定位流程的方法，对于提高软件开发效率，降低开发成本具有重要的实践价值。