STM32H750外扩FLASH死机问题解决： Cache关键影响

"应用笔记LAT1151+程序运行在+STM32H750+的外扩+FLASH+上两小时后死机" 在本文档中，我们讨论了一个客户遇到的问题，即在其STM32H750VBT6微控制器（MCU）上，通过QSPI接口外扩了一块4M NOR FLASH并采用内存映射模式运行程序。在程序运行约两小时后，MCU会出现死机现象。问题在KEIL IDE下可复现，死机位置主要集中在TIM15函数入口和中断服务函数中的赋值语句。 首先，问题分析从硬件层面入手，注意到死机发生在即将进入TIM15中断服务程序之前。考虑到电源稳定性，检查了VCAP引脚的连接，建议客户将这两个引脚短接，但问题依旧。接着，检查了PC13引脚的GPIO输出，尽管该引脚可能与备份域相关，但断开连接后问题仍然重现，说明硬件部分不是根本原因。 接下来，转向软件层面，客户已启用IO补偿功能，但IO速度设置为HIGH。修改为"VERY_HIGH"后，问题未得到解决。鉴于之前有低功耗唤醒后死机的情况，怀疑可能与CACHE有关。客户在关闭CACHE后，问题未再出现，但这并未完全解决问题，因为代码的某些改动也可能影响死机现象，但具体规律尚未明确。 为了进一步确认CACHE的影响，建议客户在调试模式下手动关闭ICache和DCache，并在使用CACHE之后的代码行设置断点。当程序运行到断点并停止后，通过系统控制配置界面关闭CACHE相关位。客户遵循这个步骤，发现关闭CACHE确实能防止死机。 综合上述情况，问题可能与STM32H750的CACHE管理和低功耗模式相关。在特定条件下，如长时间运行或特定代码执行后，可能导致CACHE异常或与中断处理的交互出现错误，从而造成死机。解决方案可能是优化代码以避免特定时间段的CACHE使用，或者在进入低功耗模式前更妥善地管理CACHE状态。客户需继续进行深入的软件调试，寻找可能的代码触发点，同时关注与CACHE、中断服务和低功耗模式相关的MCU特性，以便彻底解决死机问题。