光子辅助时间交错ADC:光学延迟线实现与校准方法
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更新于2024-08-26
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"基于光延迟线的光子辅助时间交错ADC"
这篇研究论文详细探讨了一种采用光延迟线的光子辅助时间交错模拟到数字转换器(ADC)的设计与校准方法。时间交错ADC(Time-Interleaved ADC)是一种提高ADC采样率的技术,通过将多个低速ADC并行工作并交错其采样时间,可以实现高速采样。在本文中,作者们提出了一种创新的实现方式,利用光学延迟线来增强这种技术。
光子辅助ADC的关键在于利用光信号处理来提高电子ADC的性能。在该系统中,模拟信号首先被调制成光信号,然后通过一个光学延迟线进行传输。光学延迟线能够控制光信号的时间延迟,使得来自不同ADC通道的信号可以交错并同步。这使得系统能够在不增加额外硬件复杂性的前提下,实现更高的采样速率。
论文中详细描述了如何将模拟调制的光信号分成M个通道,每个通道通过一个独立的ADC进行采样。这些ADC的采样时钟经过精确的相位调整,以确保它们在时间上交错,从而实现高采样率。由于光学延迟线的存在,每个通道的采样时间可以精确控制,减少了由于时间偏移(称为“采样时钟漂移”或“相位误差”)导致的误差。
文章还讨论了系统的校准方法,这是确保时间交错ADC性能的关键。校准过程可能包括对各个ADC的增益和失调电压进行调整,以及对采样时钟的相位进行精细调整,以补偿制造差异和环境变化带来的影响。通过这样的校准,可以显著提高转换精度和信噪比。
此外,论文还可能涉及了实验验证和性能评估,包括ADC的分辨率、转换速度、线性度和噪声性能等方面的测试结果。这些测试结果对于评估光子辅助时间交错ADC的实际应用潜力至关重要。
这项工作展示了光子技术在提高ADC性能方面的潜力,特别是在高速数据采集和通信系统中。通过结合光学延迟线和时间交错技术,研究人员可能已经开发出一种高效且可扩展的解决方案,用于未来高带宽信号处理应用。
2021-02-24 上传
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