NIX X系列: PCIExpress革新,打破测量测试瓶颈

0 下载量 151 浏览量 更新于2024-08-30 收藏 244KB PDF 举报
本文主要介绍了NI公司的DAQ X系列数据采集设备在现代测量、测试和控制应用中的优势。随着PCIExpress(PCI Express)技术的引入和其对PXIExpress标准的整合,传统的PCI接口数据传输速度得到了显著提升。PCIExpress提供了高达250MB/s的专用串行通道,相比PCI的132MB/s共享带宽,极大地减少了数据瓶颈问题。 许多数据采集设备通过桥接器实现PCI到PCIExpress的转换,虽然理论上带宽相同,但实际操作中可能会引入额外的时延。而NIX系列的X系列设备则直接支持PCIExpress接口,包括x1至x16的不同配置,这使得设备能够充分利用PCIExpress的高速性能。 X系列的一大亮点是其内置的8条DMA(Direct Memory Access)通道,这些通道允许在无需CPU干预的情况下,设备直接与PC内存进行数据交换,这对于处理模拟I/O、数字I/O和计数器/定时器任务极其高效。特别是,扩展型FIFO(First-In-First-Out)缓冲区可以支持快速的定时器操作,如事件计数和PWM(Pulse Width Modulation)输出,显著提升了数据处理速度。 此外,NI-STC3定时及同步技术的应用使得X系列设备在I/O定时和触发功能上有了显著提升。这种技术提供了4个改进式的计数器,每个计数器拥有100MHz的时基,确保了精确的时间同步和控制。这种高级定时能力对于封闭循环控制应用至关重要,因为它能够提升系统的响应速度和精度。 DAQ X系列凭借其PCIExpress接口、高效的DMA通道、强大的定时技术以及扩展功能,能够在最苛刻的测量、测试和控制环境中提供出色的性能,满足了用户对数据采集速度和精度的高要求。