March SS：全面检测静态RAM错误的新算法

"march ss algorithm for memory test" 内存测试是集成电路设计和生产过程中的关键步骤，确保芯片的可靠性和质量。MARCH SS算法是一种用于检测内存静态错误的测试方法，特别是针对随机存取存储器（RAMs）的简单错误模型。在本文中，作者Said Hamdioui、Ad J. van de Goor和Mike Rodgers详细探讨了现有的内存测试技术的局限性，并提出了一种新的测试算法——MARCH SS。 1. 内存测试的重要性 随着超大规模集成电路（ULSI）的发展，内存占据了芯片面积的相当大比例，预计到2014年将达到芯片总面积的30%。因此，内存测试在现代ULSI生产的成本中扮演着越来越重要的角色。精确的故障建模和测试对于降低生产成本、提高产品质量至关重要。 2. 故障模型概述 内存可能出现的故障多种多样，包括简单的静态故障和复杂的动态故障。静态故障通常是指不依赖于特定操作序列的故障，例如位翻转、双粒子撞击等。MARCH SS主要关注的是这些简单静态故障，它们可能由制造缺陷、材料不纯或辐射引起。 3. 当前工业标准的MARCH测试 现有的工业标准MARCH测试（如MARCH B、MARCH C-等）虽然能检测出许多常见的内存故障，但它们并不覆盖所有已知的简单静态故障。这意味着存在漏检的可能性，这在高可靠性应用中是不可接受的。 4. MARCH SS算法介绍 MARCH SS测试算法的设计目标是能够检测所有实际中可能遇到的简单静态故障，它的测试长度为22n，其中n是内存的位宽。这个测试序列具有足够的复杂度，能够覆盖各种静态故障模型，提高了故障检测的覆盖率。 5. 关键词 内存测试、故障模型、简单/链接故障、MARCH测试、故障覆盖率 6. 结论与展望 MARCH SS算法的提出，填补了现有测试方法在检测简单静态内存故障方面的空白，提高了测试的全面性。随着内存技术的持续发展，对高效、全面的测试算法的需求将越来越大，MARCH SS为未来的内存测试提供了一个强有力的基础。 MARCH SS算法是针对内存静态错误检测的重要进步，它扩展了我们理解和处理内存故障的能力，对于半导体行业的质量和可靠性保障有着显著的贡献。未来的研究可能会进一步优化这种测试算法，以适应更复杂的内存结构和更高的故障检测需求。