TTL集成逻辑门实验讲义：逻辑功能与参数测试

数电实验讲义（电子专业） 本资源摘要信息主要讲述了数电实验讲义的内容，涉及TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数测试。实验目的包括掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法、掌握TTL器件的使用规则、进一步熟悉数字电路实验装置的结构、基本功能和使用方法。 一、TTL集成逻辑门的逻辑功能 TTL集成逻辑门的逻辑功能是指当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平。其逻辑表达式为Y＝NOT（A AND B AND C AND D）。 二、TTL与非门的主要参数 TTL与非门的主要参数包括低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH。ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。通常ICCL＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。 三、TTL与非门的静态参数测试 TTL与非门的静态参数测试电路图如图1－2(a)、(b)所示。测试电路中，ICCL和ICCH的测试方法是将所有输入端悬空，输出端空载，然后测量电源提供给器件的电流。ICCL和ICCH的测试结果是器件静态功耗的大小标志。 四、TTL与非门的输入电流参数 TTL与非门的输入电流参数包括低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH。IiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数。IiH是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，流入被测输入端的电流值。在多级门电路中，它相当于前级门输出高电平时，前级门的拉电流负载，其大小关系到前级门的拉电流负载能力。 本资源摘要信息涵盖了TTL集成逻辑门的逻辑功能、TTL与非门的主要参数和静态参数测试、TTL与非门的输入电流参数等知识点，为电子专业学生和从业人员提供了有价值的参考资料。