SOC测试架构：DFT技术在集成电路设计中的应用

"Morgan.Kaufmann.System-on-Chip.Test.Architectures" 系统级芯片(System-on-Chip, SOC)的设计与测试架构是当前集成电路(IC)领域的重要研究焦点。随着技术的发展，SOC已经成为现代电子设备的核心，它将多个功能模块集成在单一芯片上，实现了高度集成的电子系统。而集成电路可测性设计(DFT, Design for Testability)技术是确保这些复杂系统可靠性和品质的关键。 本书作为IC Design for Testing领域的经典之作，主要关注的是如何在SOC设计中有效地实现测试架构，以便于在生产和使用过程中对芯片进行故障检测和诊断。DFT技术包括但不限于边界扫描、内置自测试(BIST)、多电压测试、压缩测试、功耗管理等方法，这些都是为了提升测试效率，降低成本，并确保产品在生命周期内的稳定运行。 书中涵盖了ASIC（应用特定集成电路）的设计考虑，因为ASICs经常被用作SOC的基础。在ASIC设计中，DFT策略的早期集成至关重要，因为它可以影响整个芯片的布局和布线，进而影响性能、功耗和成本。同时，对于FPGA（现场可编程门阵列）的验证也有所涉及，因为它们在原型验证和快速迭代设计中扮演着重要角色。 测试架构的设计需要考虑诸多因素，如测试覆盖率、测试时间、测试成本以及对正常操作的影响。书中可能深入探讨了如何平衡这些因素，以实现高效且经济的测试解决方案。例如，边界扫描允许在不改变外部连接的情况下测试内部电路；BIST则可以减少外部测试设备的需求，通过内部产生的测试模式来检测芯片功能。 此外，书中还可能讨论了网络-on-Chip(NoC)技术，这是现代多核SOC中数据通信的关键。NoC技术提供了高效的数据交换，但同时也带来了新的测试挑战，如如何有效地测试通信通道和处理节点之间的交互。 “System-on-Chip Test Architectures”一书汇集了多位专家的经验和见解，为DFT工程师和IC可测性设计研究人员提供了全面的指导，帮助他们应对日益复杂的SOC测试问题。通过对各种测试方法和技术的深入理解和应用，读者能够更好地应对集成电路设计中的挑战，确保产品的质量和可靠性。