LLC变压器绕组损耗优化：理论建模与实验验证

本文主要探讨了在低压大电流环境下LLC（Low-Loss Coupled-Inductor Converter）变压器的损耗优化设计，基于电磁场理论，特别是针对绕组损耗这一关键环节。作者陈庆彬，来自福州大学电气工程与自动化学院，他深入分析了LLC变压器绕组损耗的机理，并在此基础上，利用电磁场理论推导出了一种适用于变压器损耗分析与优化设计的一维计算模型。这种模型能够准确预测变压器在不同结构条件下的损耗情况，从而为实际设计提供科学依据。 研究重点关注了变压器绕组的布置结构以及两绕组的出线端子连接方式对损耗的影响。通过对这些因素的深入剖析，作者提出了优化的结构方案，旨在最小化绕组损耗，提升变压器的整体效率。通过建立的损耗模型，文章特别针对副边铜箔进行了优化设计，目标是在特定的厚度条件下，实现变压器副边绕组损耗的最低状态。 实验部分验证了作者理论分析的正确性和实用性，这表明提出的损耗计算模型和优化策略不仅具有理论价值，也具备实际应用的潜力。文章引用了中图分类号TM4615，进一步明确了研究领域，即电力电子设备中的电磁兼容技术和变压器损耗控制。 这篇首发论文对于从事电力电子技术尤其是电磁兼容领域的研究人员和技术工程师来说，是一份有价值的参考资料，它提供了一个系统的方法来理解和降低LLC变压器的损耗，有助于推动该领域的技术创新和实践应用。