异质界面影响CMN/CT叠层薄膜结构与介电性能研究

"异质界面对Ca(Mg1/3Nb2/3)O3/CaTiO3叠层介质薄膜结构和性能的影响" 本文详细探讨了异质界面在Ca(Mg1/3Nb2/3)O3/CaTiO3（简称CMN/CT）叠层介质薄膜中的作用，该研究由刘存金、周静、李儒和陈文等人进行，并得到了多项科研项目的资助。CMN/CT薄膜因其特殊的物理特性和潜在的应用价值，在电子器件领域备受关注，尤其是其介电性能。 通过采用叠层技术，研究人员制备了一系列具有不同排布方式和异质界面数量的CMN/CT薄膜。实验结果显示，这些薄膜的微观结构和形貌受到叠层方式的显著影响。CMN/CT薄膜表现出完全正交钙钛矿结构，这意味着它们具有高度有序的晶体结构，这对于优化其电性能至关重要。此外，薄膜中同时存在CMN和CT两个独立的相，这表明两种材料在界面处并未发生深度的化学反应，而是以物理混合的形式共存。 进一步的研究发现，随着异质界面数量的增加，CMN/CT叠层薄膜的表面粗糙度呈现下降趋势。这一现象可能是因为更多的界面促进了材料之间的相互作用，使得薄膜更加致密和平整。同时，界面的增多也对介电性能产生了积极影响，表现为介电常数增大，介电损耗减小。这可能是由于界面的增加改善了电荷的传输和存储效率，减少了能量损失。 这种对异质界面影响的深入理解对于优化CMN/CT薄膜的性能，特别是在高频电子设备、储能器件以及微波应用中，具有重要的理论和实践意义。通过对薄膜微观结构的精确控制，可以实现对介电性能的定制，满足不同应用的需求。 关键词：CMN/CT叠层薄膜；异质界面；显微结构；介电性能 此研究不仅揭示了界面在多层薄膜结构中的关键作用，还为未来设计高性能介电材料提供了新的思路。通过调整叠层策略和界面特性，有望开发出具有更优异性能的新型复合介质薄膜。