相位差异技术在非共光路静态像差校准中的应用

"利用相位差异技术校准非共光路静态像差" 本文介绍了一种基于相位差异(PD)技术的自适应光学(AO)系统非共光路静态像差校准方法。该技术主要针对大口径光电成像系统中存在的像差问题，旨在提高成像质量和分辨率。相位差异技术的核心是通过获取焦面和离焦面的单帧或多帧短曝光图像，以估计波前相位畸变，同时恢复目标图像的清晰度。 在自适应光学系统的闭环工作模式下，该方法利用相位差异算法实时监测成像光路中的静态像差。根据检测到的像差系数，系统会调整变形镜的初始面形，从而补偿非共光路的静态像差。实验结果显示，采用此方法后，成像质量得到了显著提升，目标图像的半峰全宽下降约14%，系统残差降低约72%。此外，成像光路在线检测得到的系统残差与闭环回路实测残差趋于一致，证明了相位差异技术在光学检测中的有效性和可靠性。 该方法的一大优点是无需改动原有的自适应光路结构，同时在高信噪比条件下能精确解算系统像差。因此，它是一种适用于大口径光电成像系统的理想光学检测技术。结合几何光学和波前探测理论，相位差异技术能够有效地解决自适应光学系统中的静态像差问题，从而提高天文观测、生物医学成像以及其他需要高精度光学成像的应用领域的性能。 关键词: 自适应光学，几何光学，波前探测，相位差异，静态像差 总结来看，文章介绍了一种利用相位差异技术对自适应光学系统进行非共光路静态像差校准的新方法，这种方法在不改变原有系统结构的前提下，提高了成像质量和效率，特别适用于大口径光电成像系统。通过实验验证，该方法表现出良好的性能，为自适应光学系统提供了更优的解决方案。