VLSI测试方法学与可测性设计解析

"鉴别序列的推导-国科大-模式识别-2018期末试题" 这篇资源涉及的是模式识别课程中的一个重要概念——鉴别序列的推导，它与自动机理论（FSM，Finite State Machine）紧密相关，通常用于检测和识别不同的状态或模式。在给定的描述中，呈现了多个表格，这些表格表示了不同状态下自动机的转移规则，例如，(ABCD)、(ACD)、(BC)等，以及它们在0和1输入下的变化。每个括号内的字母组合代表自动机的一个状态，而0和1则表示输入信号。 鉴别序列的推导是设计和分析有限状态机的关键步骤，目的是找到一种输入序列，该序列能够区分自动机的不同状态，或者使自动机能从一个已知状态转移到目标状态。在VLSI（Very Large Scale Integration，超大规模集成电路）领域，这种序列用于测试芯片的功能正确性，尤其是在进行可测性设计时。 标签"VLSI"表明这个主题与集成电路的设计和测试有关。在VLSI测试方法学和可测性设计中，为了确保集成电路在制造过程中的质量和功能，测试是非常重要的一步。这包括生成有效的测试序列来检查电路的每个部分，确保它们按预期工作。书中提到的内容涵盖了从基本的电路测试和分析概念，到数字电路的描述和模拟方法，再到专用可测性设计、扫描和边界扫描测试、IDDQ测试（电流差分测量测试）、随机和伪随机测试等高级测试策略。 此外，书中还讨论了与M序列相关的测试生成方法，这些序列常用于生成具有特定性质的测试序列，以覆盖所有可能的状态转换。内建自测试（Built-In Self-Test, BIST）是另一个重要主题，它允许芯片内部集成测试逻辑，以自动化测试过程。数据压缩结构和压缩关系对于减少测试数据的体积和提高测试效率至关重要。最后，针对特定类型的电路，如Memory和System-on-Chip（SoC），书中提供了专门的可测性设计方法。 这个资源和相关书籍为读者提供了一个深入理解VLSI测试方法和可测性设计的框架，不仅适用于学术研究，也是集成电路设计、制造、测试和应用领域的专业人士的重要参考资料。