2020 ISSCC:高级CMOS工艺下嵌入式内存设计关键与解决方案
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更新于2024-07-16
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"ISSCC2020-SC-4.pdf" 是一份关于嵌入式内存和支持电路设计在先进CMOS技术中的考虑因素和解决方案的会议资料,由Eric Karl,英特尔公司的高级首席工程师,在2020年2月20日的ISSCC(国际固态电路会议)短课程4中分享。该课程详细探讨了静态随机访问存储器(SRAM)在高级CMOS技术中的关键角色,以及其设计要点和挑战。
首先,课程介绍了嵌入式SRAM和支持电路,包括SRAM的基本工作原理,如读取和写入操作。读取操作涉及数据的快速、无损获取,而写入则涉及到保持足够的写入裕度以确保数据的可靠存储。SRAM的稳定性是设计时的重要考量,尤其是在先进的工艺节点中,可能遇到的新问题和技术挑战。
课程还讨论了多端口SRAM的设计,这种架构允许同时进行多个读写操作,提高了系统性能。随着技术的进步,嵌入式动态随机访问内存(Embedded DRAM,eDRAM)也成为关注焦点,它结合了SRAM的快速性和DRAM的密度,为系统设计师提供了更灵活的选择。
非挥发性嵌入式存储如闪存也在课程中提及,尽管它们的特点与SRAM和DRAM不同,但同样在系统设计中占据一席之地。课程内容涵盖了如何通过电路解决方案来应对这些新型存储技术所面临的挑战,例如功耗优化、延迟减少和可靠性增强。
此外,课程还安排了问答环节,参与者可以就具体的设计问题向专家提问,这表明了实践应用中可能遇到的问题及寻求解答的重要性。
这份资源提供了一个深入理解嵌入式内存和相关电路设计在现代CMOS技术背景下如何应对技术变革的全面视角,对从事芯片设计、系统集成和半导体制造的专业人士具有很高的参考价值。通过学习,工程师们能够更好地利用先进技术,提升产品的性能和稳定性,适应快速发展的电子市场。"
2020-03-17 上传
2020-03-17 上传
2020-02-26 上传
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2020-06-29 上传
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Savory-U
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