Tessent软件2022.4版用户手册
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更新于2024-06-17
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"Tessent用户指南,版本2022.4,文档修订版29,由西门子EDA提供,包含Tessent壳参考手册。该文档未发表,涉及西门子及其关联公司的机密信息,仅限于与西门子有适用协议的客户内部使用,未经许可不得复制或披露。文档内容仅供参考,西门子有权随时更改,读者需直接咨询西门子以确认最新信息。文档中的任何事实陈述均不视为西门子的保修或责任。若已签署西门子的许可协议,可参考本文档。"
在集成电路(IC)设计领域,DFT(Design for Testability,可测试性设计)是一个关键环节,它确保产品在制造、调试和维护过程中能被有效地检测和验证。Tessent是西门子EDA提供的一套全面的DFT解决方案,它包含了各种工具和技术,用于提高IC设计的可测试性和生产效率。
Tessent用户指南,作为软件的参考手册,旨在帮助用户理解和操作Tessent工具集。这个2022.4版本的文档可能包括了如何设置和配置Tessent工具,进行扫描链设计、边界扫描、内置自测试(BIST)、多电压检测、功耗分析以及其他高级DFT技术的详细步骤。用户可以通过此指南学习如何集成这些功能到他们的设计流程中,以实现更高效、更可靠的测试方案。
边界扫描是一种常见的DFT技术,通过在设计中添加额外的逻辑来测试电路的内部节点。Tessent可能提供了配置和管理这些扫描链的工具,使得在芯片生产后能够对内部组件进行测试,而无需复杂的外部测试设备。BIST则允许IC自己执行测试,减少了对外部测试设备的依赖,提高了生产效率。
此外,Tessent可能还包括了针对低功耗设计的支持,帮助设计师在确保可测试性的同时降低芯片的功耗。这可能涉及到功耗分析工具,用于在设计阶段预测和优化功耗,以及在测试阶段监测和控制功耗。
文档中强调了其法律约束力,指出只有与西门子签订相应协议的客户才能合法使用,并且西门子保留随时更新文档内容的权利。这意味着用户必须时刻关注最新的文档版本以获取最准确的信息。如果用户已与西门子签署了许可协议,他们将有权访问和使用这些详细资料,以便在实际设计中充分利用Tessent工具的优势。
Tessent用户指南是IC设计工程师的重要参考资料,它提供了实施DFT策略,优化测试流程,确保设计质量和可靠性的关键信息。通过深入理解并应用该指南中的内容,工程师可以提高设计的可测试性,降低测试成本,同时满足不断变化的行业标准和客户需求。
2023-06-22 上传
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