JTAG接口JTAG(JointTestActionGroup， - CSDN文库

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JTAG(Joint Test Action Group ，联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议，主要

用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试， JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯

片内部封装了专门的测试电路 TAP （ Test Access Port ，测试访问口），通过专用的

JTAG 测试工具对内部节点进行测试。

目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标

准的 JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测

试时钟、测试数据输入和测试数据输出。

JTAG 测试允许多个器件通过 JTAG 接口串联在一起，形成一个 JTAG 链，能实现对各

个器件分别测试。 JTAG 接口还常用于实现 ISP （ In-System Programmable 在系

统编程）功能，如对 FLASH 器件进行编程等。

通过 JTAG 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种

简洁高效的手段。目前 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其

定义分别如下所示。

14 针 JTAG 接口定义：

14 针 JTAG 接口定义引脚名称描述

1 、 13 VCC 接电源

2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 GND 接地

3 nTRST 测试系统复位信号

5 TDI 测试数据串行输入

7 TMS 测试模式选择

9 TCK 测试时钟

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