Jade使用手册：X射线衍射实验与数据分析

"Jade中文说明Jade中文手册" Jade是一款强大的X射线衍射（XRD）数据处理和分析软件，广泛应用于材料科学、化学、物理等领域。本手册由黄继武编撰，主要基于MDI Jade 5.0和6.5版本，提供详细的使用指南。 1. 进入Jade 用户可以通过点击开始菜单或桌面快捷方式的“MDIJade”图标启动程序，启动页面后将进入Jade的主要工作界面。若Jade已正确安装并使用过，系统会默认显示上次退出时的工作状态。 2. 读入文件 通过菜单栏的“File|Patterns”选项，可以打开文件选择对话框，双击所需的XRD数据文件将其加载到主窗口进行显示。 3. 设置文本文件格式 Jade支持多种文本文件格式，用户可以根据需要设置文件的导入参数，确保数据能被正确解析。 4. 基本功能操作与显示 手册涵盖了基本操作，如数据导入、物相检索、PDF卡片查找、寻峰、Rietveld精修（RIR方法计算物相质量分数）、计算结晶化度等。此外，还包括基本的显示操作，如图谱调整、缩放、平移等。 5. PDF卡片索引建立 PDF卡片索引是进行物相鉴定的基础，用户需确保Jade已建立完整的PDF卡片数据库，以便进行物相检索。 6. 物相检索与PDF卡片查找 通过输入物相信息，Jade可以自动匹配PDF卡片，帮助用户识别样品中的物相组成。 7. 图谱拟合与分析 Jade提供了强大的图谱拟合功能，可以对衍射峰进行多峰拟合，分析晶面指数、半峰宽、晶粒大小、微观应变等参数。同时，软件还可以计算点阵常数，对比理论和实验数据。 8. 计算晶粒大小及微观应变 Jade能够根据衍射峰的形状和宽度，采用不同的模型和算法来估算样品的平均晶粒大小和微观应变。 9. 角度补正曲线的制作 通过创建角度补正曲线，可以校正因实验条件引起的衍射角度偏差，提高数据的准确性。 10. 计算残余应力 对于薄膜或涂层等材料，Jade可以计算其表面或内部的残余应力，这对于评估材料性能至关重要。 11. 多谱显示与多谱拟合 Jade支持同时显示和比较多个衍射谱，方便用户分析不同条件下的样品变化。多谱拟合功能则允许用户对多个数据集进行同步处理，以揭示更复杂的物相信息。 12. 计算RIR Rietveld重积分（RIR）是分析物相比例和晶格参数的重要手段，Jade内置的RIR计算功能使得这一过程变得便捷。 Jade中文手册旨在帮助用户充分利用软件的功能，进行高效且准确的XRD数据分析，无论是基础操作还是高级分析，都能提供详尽的指导。