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化学机械研抛光技术(CMP)
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更新于2023-03-16
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化学机械研磨技术(化学机械抛光, CMP)兼具有研磨性物质的机械式研磨与酸碱溶液的化学式研磨两种作用,可以使晶圆表面达到全面性的平坦化,以利后续薄膜沉积之进行。 在CMP制程的硬设备中,研磨头被用来将晶圆压在研磨垫上并带动晶圆旋转,至于研磨垫则以相反的方向旋转。在进行研磨时,由研磨颗粒所构成的研浆会被置于晶圆与研磨垫间。影响CMP制程的变量包括有:研磨头所施的压力与晶圆的平坦度、晶圆与研磨垫的旋转速度、研浆与研磨颗粒的化学成份、温度、以及研磨垫的材质与磨损性等等。
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化学机械研抛光技术化学机械研抛光技术(CMP)
化学机械研磨技术(化学机械抛光, CMP)兼具有研磨性物质的机械式研磨与酸碱溶液的化学式研磨两种作
用,可以使晶圆表面达到全面性的平坦化,以利后续薄膜沉积之进行。 在CMP制程的硬设备中,研磨头被用来
将晶圆压在研磨垫上并带动晶圆旋转,至于研磨垫则以相反的方向旋转。在进行研磨时,由研磨颗粒所构成的
研浆会被置于晶圆与研磨垫间。影响CMP制程的变量包括有:研磨头所施的压力与晶圆的平坦度、晶圆与研磨
垫的旋转速度、研浆与研磨颗粒的化学成份、温度、以及研磨垫的材质与磨损性等等。
化学机械研磨技术(化学机械抛光, CMP)兼具有研磨性物质的机械式研磨与酸碱溶液的化学式研磨两种作用,可以使晶圆
表面达到全面性的平坦化,以利后续薄膜沉积之进行。 在CMP制程的硬设备中,研磨头被用来将晶圆压在研磨垫上并带动晶
圆旋转,至于研磨垫则以相反的方向旋转。在进行研磨时,由研磨颗粒所构成的研浆会被置于晶圆与研磨垫间。影响CMP制
程的变量包括有:研磨头所施的压力与晶圆的平坦度、晶圆与研磨垫的旋转速度、研浆与研磨颗粒的化学成份、温度、以及研
磨垫的材质与磨损性等等。


















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