集成运放的主要参数以及测试方法_理想集成运放的增益 - CSDN文库

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集成运放的性能主要参数及国标测试方法

集成运放的性能可用一些参数来表示。

集成运放的主要参数：

1．开环特性参数

（1）开环电压放大倍数 Ao。在没有外接反馈电路、输出端开路、在输入端加一个低频

小信号电压时，所测出输出电压复振幅与差动输入电压复振幅之比值，称为开环电

压放大倍数。Ao 越高越稳定，所构成运算放大电路的运算精度也越高。

（2）差分输入电阻 Ri。差分输入电阻 Ri 是运算放大器的主要技术指标之一。它是指：

开环运算放大器在室温下，加在它两个输入端之间的差模输入电压变化量△ Vi 与

由它所引起的差模输入电流变化量△Ii 之比。一般为 10k~3M，高的可达 1000M

以上。在大多数情况下，总希望集成运放的开环输入电阻大一些好。

（3）输出电阻 Ro。在没有外加反馈的情况下，集成运放在室温下其输出电压变化与输

出电流变化之比。它实际上就是开环状态下集成运放输出级的输出电阻，其大小反

映了放大器带负载的能力，Ro 通常越小越好，典型值一般在几十到几百欧。

（4）共模输入电阻 Ric。开环状态下，两差分输入端分别对地端呈现的等效电阻，称为

共模输入电阻。

（5）开环频率特性。开环频率特性是指：在开环状态下，输出电压下降 3dB 所对应的

通频带宽，也称为开环-3dB 带宽。

2.输入失调特性

由于运算放大器输入回路的不对称性，将产生一定的输入误差信号，从而限制里运算放大

器的信号灵敏度。通常用以下参数表示。

（1）输入失调电压 Vos。在室温及标称电源电压下，当输入电压为零时，集成运放的输

出电位 Vo0 折合到输入端的数值，即：

Vos=Vo0/Ao

失调电压的大小反映了差动输入级元件的失配程度。当集成运放的输入端外接电阻比较小

时。失调电压及其漂移是引起运算误差的主要原因之一。Vos 一般在 mV 级，显然它越小

越好。

（2）输入失调电流 Ios。在常温下，当输入信号为零时，放大器两个输入端的基极偏置

电流之差称为输入失调电流。即：

Ios=Ib- — Ib+

式中 Ib-、Ib+为放大器内两个输入端晶体管的基极电流。 Ios 一般在零点几微安到零点零

几微安数量级，其值越小越好。失调电流的大小反映了差动输入级两个晶体管 B 值的失配

程度，当集成运放的输入端外接电阻比较大时，失调电流及其漂移将是运算误差的主要原

因。

（3）输入失调电流温漂 dIos。温度波动对运算放大器的参数是有影响的。如温度变化

时，不仅能使集成运放两输入晶体管的基极偏置电流 Ib-、Ib+发生变化，而且两

者的变化率也不相同。也就是输入失调电流 Ios 将随温度而变化，不能保持为常数。

一般常用的集成运放的 dIos 指标如下：

 通用 I 型低增益运放。在+25℃~+85℃范围约为 5~20nA/℃，-40℃~+25℃范

围约为 20~50nA/℃。

 通用Ⅱ型中增益运放。dIos 约为 5~20nA/℃。

 低漂移运放。dIos 约为 100PA/℃

（4）输入失调电压温漂 dVos。在规定的工作温度范围内，Vos 随温度的平均变化率，

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评论1

lovejuanjuan

2017-10-06

对刚开始学的来说，还是可以用的，不过要修改

qq_25928567

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