AN2668
应用笔记
改进 STM32F1 系列、STM32F3 系列和 STM32Lx 系列
过采样 ADC 分辨率
介绍
基于 STMicroelectronics STM32F1 系列、STM32F3 系列和 STM32Lx 系列 Cortex -M3 的微控制器
嵌入了一个 12 位增强型模数转换器，采样速率最高可达 Msamples/s。对于大多数应用，这种分辨率已
经足够，但在某些需要更高精度的情况下，可以采用过采样和抽取输入信号的概念，以节省外部模数转
换器解决方案的使用并降低应用功耗。
本应用笔记给出了两种提高模数转换器分辨率的方法。这些技术基于相同的原理:用最大 1 MHz 模数转
换器能力对输入信号进行过采样，并抽取输入信号以提高其分辨率。
本应用笔记中给出的方法和嵌入式软件(STSW-STM32014)适用于中高密度 STM32F1 系列产品以及所
有 STM32F3 系列和 STM32Lx 系列产品。应用笔记末尾给出了一些具体提示，以利用数模转换器外设
和模数转换器双模在一些 STM32F1 系列、STM32F3 系列和 STM32Lx 系列器件中的实现。
本应用笔记分为两个主要部分:第一部分描述过采样如何提高模数转换器指定的分辨率，第二部分描述实
现不同可用方法的指南，并给出在 STM32F1 系列、STM32F3 系列和 STM32Lx 系列器件上实现这些
方法的嵌入式软件流程图。
2017 年 12 月 DocID14183 Rev 3 1/23
www.st.com
目录 AN2668
内容
1 一般信息。。。。。。。
2 模数转换器信号的定义
3 奈奎斯特定理和过采样。。。。。。
4 使用白噪声的过采样。
5 使用三角形 di 的过采样
6 比较第一种和第二种方法。。
7 个提示。。。。。。。。。。。。。。。。
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