OLED光电性能测试系统设计与分析

该文介绍了一种用于OLED(有机发光二极管)光电性能综合测试的系统设计方案，旨在解决现有测试方法中存在的问题，如不能同时测量多个参数、精度低和效率低等。 OLED技术是当前显示和光电领域的热点，这种器件因其自发光、高对比度和响应速度快等特点，在平板显示器和照明应用中具有广泛前景。测试OLED的性能至关重要，它涉及到电流-电压特性、发光亮度-电压特性、温度-电流特性、发光效率-电压特性、色坐标和电致发光光谱等多个方面。这些参数直接影响OLED的显示质量和能效。 目前，OLED性能的常规测试方法通常依赖于独立的仪器，如直流电压表、电流表、微弱光光度计和温度采集仪，但这种方法存在明显的局限性：不能实时同步测量所有关键参数，导致数据处理复杂，且测量误差较大，效率较低。 为了解决这些问题，文中提出了一种基于微控制器的集成测试系统。这个系统采用微控制器作为核心，整合了精密恒压（恒流）电源、电压电流测量、温度测量和亮度测量功能。系统还能执行数据存储、分析、图形化显示和打印输出，实现了对OLED器件光电性能的高精度、快速自动化测试。通过这种方式，测试工作变得更加高效、精确且易于操作。 系统结构包含上下两部分：下位机由微控制器MSP430F149驱动，配备有可编程直流电源、光电转换电路、温度测量电路、量程切换电路、显示电路和RS232通信接口；上位机则是一台通用PC，运行专门的数据处理软件，负责处理下位机收集的数据并进行光电性能分析。 该系统的运行过程是，通过下位机设定测试条件，采集OLED的各种参数，然后通过RS232接口将数据传输至上位机。上位机对数据进行处理，得出OLED的性能指标，同时提供图形化的结果展示，便于研究人员理解和评估OLED器件的性能。 这种综合测试系统极大地提升了OLED性能测试的效率和准确性，对于推动OLED技术的发展和应用具有积极意义。通过优化测试流程，可以更有效地评估和优化OLED的设计，进一步推动其在显示和照明领域的广泛应用。