基于FPGA的并行多通道激励信号生成器：硬件解决方案

本文主要探讨了FPGA在并行多通道激励信号产生模块中的应用，针对并行测试中的需求，提出了一种创新的设计解决方案。并行测试是一种先进的测试技术，通过硬件并行处理，能够同时对多个被测对象进行高效测试，减少软件层面的任务分解和调度压力。在资源有限或调度算法不成熟的情况下，硬件并行测试尤为重要，尤其是对于多通道激励信号的需求，直接影响测试效率和并行性能。 文章的核心部分着重介绍了设计中使用的硬件平台，如采用Altera公司的EP2C35作为控制芯片，这款芯片内置Nios II嵌入式软核，能够有效驱动整个并行多通道信号产生模块。模块内部包括四个子模块：波形产生控制模块、信号产生模块、同步电路模块以及调理输出模块。其中，波形产生模块采用了DDS（直接数字频率合成）技术，这种技术的优势在于能够产生频率、相位和幅度可调的纯净波形，切换速度快，确保信号的稳定性和灵活性。 设计中，每个通道都是独立工作的，可以在无需干扰其他通道的情况下进行启动和停止输出，实现了多通道的并行性。为了满足多路同步激励的需求，模块还具备多通道同步功能，允许用户配置同步通道的数量以及各通道之间的信号关系。控制命令信号通过PCI总线传输至FPGA，FPGA负责接收这些命令并进行解析和执行。 本文提供的并行多通道激励信号产生模块是为了解决并行测试中的挑战，通过FPGA的硬件优势，优化了测试资源分配，提高了测试效率，为并行测试系统的实现提供了有力支持，对于提升测试质量和降低成本具有显著意义。此外，该模块技术的应用也为未来的测试技术发展和武器装备快速维护保障能力的增强奠定了基础。