TI TPS7H2211-SP：辐射硬质14V 3.5A eFuse电源芯片

"TI-TPS7H2211-SP.pdf" TI-TPS7H2211-SP是一款由德州仪器（Texas Instruments）生产的辐射硬化（Radiation-Hardness-Assured，RHA）电源管理集成电路，特别设计用于在恶劣的太空环境或高辐射环境中保持稳定工作。该芯片具有14伏特的最大输入电压和3.5安培的最大连续开关电流能力。 主要特点： 1. 辐射耐受性：该器件经过了总计化剂量（TID）测试，能够承受高达100krad（Si）的辐射剂量，并提供100krad（Si）的辐射硬度保证。此外，它对单事件效应（Single-Event Effects, SEE）进行了表征，包括对单事件锁定（SEL）、单事件烧断（SEB）和单事件门击穿（SEGR）的免疫，这些效应在线性能量传输（LET）达到75MeV-cm²/mg时不会发生。 2. 单通道集成熔丝：TPS7H2211-SP内建一个单通道熔丝，提供过流保护功能。 3. 宽输入电压范围：4.5伏特到14伏特，适用于各种电源条件。 4. 低导通电阻：在25°C和VIN=12V时，最大导通电阻仅为60毫欧，降低了功耗和热损耗。 5. 3.5安培最大持续电流：满足高功率应用需求。 6. 低控制输入阈值：兼容1.2伏、1.8伏、2.5伏和3.3伏逻辑电平，易于系统集成。 7. 可配置的上升时间（Soft Start）：允许用户根据系统需求调整电源的启动速度。 8. 反向电流保护（RCP）和过电压保护（OVP）：防止电流反向流动和电压过高导致的损害。 9. 内置快速响应电流限制：在过载情况下迅速断开，保护电路。 10. 热关断：当芯片温度过高时，自动关闭以防止损坏。 11. 陶瓷封装带散热垫：提高散热性能，增强在高温环境下的可靠性。 12. 军用级温度范围：可在-55°C至125°C的宽温度范围内稳定工作。 该芯片主要应用于卫星和其他太空电子设备，以及对辐射环境有严格要求的工业和军事领域。如需了解详细的单事件效应辐射测试条件和更多信息，可参考TPS7H2211-SP的单事件辐射报告。