MT6765_62 ETT & Stress Test指南：LP4X V1.6

"MT6765_62 ETT测试与压力测试参考指南LP4X V1.6.pdf" 本文档是针对MediaTek MT6765芯片的一款手机开发测试与压力测试的详细指南，主要涵盖了ETT测试步骤、眼图扫描功能、DRAM压力测试、Nenamark2+DVFS对快速启动的影响、挂起/恢复操作、重启模式（DDR保留模式、全速启动、快速启动）、测试通过的判断方法、常见问题处理以及高温关机问题的解决方案。文档的变更历史显示了自2018年4月到12月期间的多次更新，以优化测试流程和标准。 1. ETT测试步骤：ETT（Engineering Test Tool）测试是一个关键环节，用于验证MT6765芯片在不同工作条件下的性能和稳定性。这个过程可能包括一系列硬件和软件的验证，确保所有组件在正常和极限条件下都能正常工作。 2. MTK Eye-Scan Function：这是一个专门用于检测内存系统的眼图扫描工具，通过分析信号质量来确保数据传输的准确性和可靠性。眼图是一种用来评估数字信号质量的图形表示，可以揭示信号失真、噪声和其他潜在问题。 3. DRAM压力测试：DRAM（动态随机存取内存）压力测试是评估内存性能和耐久性的手段，通过持续的读写操作来模拟极端工作负载，以找出潜在的内存故障或稳定性问题。 4. Nenamark2+DVFS for Fast-K：Nenamark2是一个图形性能基准测试应用，而DVFS（动态电压频率调整）则是一种节能技术，用于根据处理器负载调整电压和频率。测试中，Fast-K可能指的是快速启动模式，这里可能是研究在快速启动下如何保持高性能和能效。 5. Suspend/Resume和Reboot：这些测试关注的是设备的电源管理能力，包括从挂起状态恢复到正常运行，以及在不同模式下的重启过程，如DDR保留模式、全速启动和快速启动，这些都是衡量用户体验和系统稳定性的关键指标。 6. 测试通过的判断方法：文档中提到有特定的计算表和Build Preloader（通过emigen.pl脚本生成）用于检查测试结果，还有custom_Memory Device.h和ETT custom_emi.h等配置文件，以确保测试条件符合DRAM规格，并且Android StressTest（如3D Nenamark2、PM Stress、ABReboot）的结果满足预设的通过标准。 7. 常见问题处理和高温关机问题：这部分内容提供了针对测试过程中可能出现的问题的解决策略，特别是对于可能导致设备在高温下自动关机的状况，可能涉及散热设计、电源管理或者系统设置的优化。 这份文档是MediaTek MT6765芯片在手机开发过程中的重要参考资料，它详细描述了从硬件验证到软件性能测试的全面流程，旨在确保最终产品的质量和用户满意度。