2018 JESD22-A117E：EEPROM程序擦除耐久性与数据保留测试标准

JEDEC JESD22-A117E标准，于2018年发布，是关于电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）的重要技术规范，重点关注程序擦除耐久性和数据保留能力的压力测试。该标准旨在确保EEPROM在工业应用中的可靠性和一致性，其目的是消除制造商与消费者之间的误解，促进产品间的互换性，并帮助用户在最短的时间内选择和获取适合的设备，无论是在国内还是国际市场上。 标准的核心内容规定了如何通过资格验证的标准方法来执行EEPROM的耐用性、保持性以及交叉温度测试。这些测试包括但不限于循环次数、持续时间、温度范围以及样本大小的要求。JESD47标准提供了具体的耐用性和保持性评估准则，涉及到周期性的擦写/编程和读取操作，同时考虑到环境条件对数据稳定性的影响。此外，如果制造商不具备执行JESD47要求的能力，他们也可以参考JESD94中的基于知识的方法，这是一种灵活性较高的评估途径。 JESD22-A117E标准修订自前一版本JESD22-A117D，强调了对EEPROM性能的严谨测试，以确保其在各种工作条件下都能长时间保持数据完整性。该标准还强调了知识产权的尊重，指出所有JEDEC的标准和出版物都经过董事会和法律团队的审查，以确保其合规性和公正性。 对于那些希望使用JEDEC标准的企业和个人，如北测（上海）电子科技有限公司，他们可以通过下载此标准来确保他们的产品符合行业标准，并在设计和采购EEPROM时做出明智决策。联系人Xuyajun可以通过邮箱xuyj@beice-sh.com或电话13917165676获取更多信息或技术支持。 JEDEC JESD22-A117E标准是电可擦除可编程ROM（EEPROM）领域内的关键参考资料，它在确保产品质量、提升市场竞争力以及维护消费者信任方面起着至关重要的作用。遵循这一标准有助于企业在电子产品设计过程中实现更高效和稳定的内存解决方案。