光电产品寿命预测新模型：加速寿命外推(ALEM)与VFD应用

本文主要探讨了光电产品寿命预测领域的一项创新工作——加速寿命外推模型(Accelerated Life Exponential Model, ALEM)。当前的寿命预测模型在处理光电产品实验数据时面临耗时长和精度低的问题，针对这些问题，研究者提出了一种新的解决方案。通过采用两参数威布尔函数对多组不同应力条件下的亮度衰减数据进行拟合，获取加速寿命，然后运用拟合优度检验来确定Power函数，以此为基础来外推常规的使用寿命。 ALEM的核心思想是将实验数据的加速效应考虑在内，通过加速退化实验来缩短测试时间，同时保持对实际使用寿命的准确性。作者以真空荧光显示屏(VFD)为例，进行了四组恒定应力下的加速退化实验，这些实验的设计旨在验证模型的有效性和可行性。结果显示，所采集的数据客观反映出了VFD的亮度衰减特性，表明所选择的实验方案是正确的。 ALEM成功地描述了在加速应力下的亮度变化趋势，揭示了应力与寿命之间的关系，使得在不进行常规长时间寿命测试的情况下，也能精准地预测产品的寿命。这一方法对于现代光电产品的寿命评估具有显著的意义，因为它提供了一种高效且精确的评估途径，对于提升光电产品的可靠性和生产效率具有重要的实际价值。 关键词包括光学器件、寿命预测模型、加速退化实验、威布尔函数以及Power函数，这些都围绕着本文的主要研究内容和方法展开。这篇文章不仅介绍了ALEM的理论构建，还展示了其在VFD寿命预测中的具体应用，为光电产品领域的寿命预测提供了新的科学依据和技术支持。