STM32F103光敏传感器实验及代码解析

本实验是一个基于STM32F103ZET6开发板的光敏实验，实验的主要内容是通过读取开发板上的光敏传感器LS1来测量环境光线强度，并通过LED数码管显示0到100之间的光线强度值。实验环境搭建在个人计算机上，使用的操作系统为Windows 10，开发工具包括Keil μVision 5和串口调试助手。 知识点概述： 1. 光敏传感器（Photoresistor）： 光敏传感器是实验中的关键组件，其电阻值会随着光照强度的变化而变化。在较亮的环境中，光敏传感器的电阻减小，而在较暗的环境中，电阻增大。这种特性使得光敏传感器可以用于检测光线的变化。 2. STM32F103ZET6开发板： STM32F103ZET6开发板是一种基于ARM Cortex-M3内核的微控制器，具有丰富的外设和较高的性能，适用于嵌入式系统开发。在这个实验中，开发板用于读取光敏传感器的电压值，处理数据，并将结果显示在LED数码管上。 3. Keil μVision 5： Keil μVision 5是一款集成了软件开发和调试工具的集成开发环境（IDE），特别为ARM处理器设计。在这个实验中，Keil μVision 5用于编写、编译和下载程序到STM32F103ZET6开发板。 4. 串口调试助手： 串口调试助手是一个常见的用于调试和测试串口通信的应用程序。在本实验中，串口调试助手可以用于实时查看和分析开发板通过串口发送的数据，比如光线强度值。 5. 软件模拟电压值转换： 源码中应该包含将读取的模拟电压值转换成0到100的光线强度等级的算法。通常情况下，需要通过某种形式的映射函数来实现，这个函数能够根据输入的电压值计算出对应的光线强度。 6. LED数码管显示： 实验中，开发板将光线强度值显示在LED数码管上。这要求开发板能够控制数码管的各个段，以显示正确的数字。这通常涉及到数码管驱动和多路复用等技术。 7. 实验操作： 用户可以通过遮挡光敏传感器或使用手电筒照射来改变光照强度，观察LED数码管显示的数值变化。这样的操作可以让用户直观地理解光线强度与传感器读数之间的关系。 8. 光强变化的响应： 实验应展示开发板对光强变化的响应能力。通过改变光敏传感器的光照条件，可以观察数码管上显示数值的变化速度和准确性，从而评估整个系统的性能。 实验涉及的关键知识点涵盖了嵌入式系统开发的多个方面，包括硬件接口、传感器数据采集、数据处理、显示接口和软件编程。实验源码中应包含必要的硬件初始化代码、ADC（模数转换器）读取和处理代码、数码管显示驱动代码以及串口通信代码。源码还应有详细的注释，帮助理解每个部分的功能和实现方法。 通过本实验，学习者能够掌握如何使用STM32微控制器进行基本的硬件交互和数据处理，并且了解如何通过软件控制硬件以实现具体的应用功能。这为从事嵌入式系统开发和物联网相关工作打下了坚实的基础。