雷达信号分析：平均旁瓣电平与通用因子的影响

"本文讨论了平均旁瓣电平与雷达及信号分析的相关概念，特别是与反射面天线设计和性能的影响。平均旁瓣电平是衡量雷达系统发射信号旁瓣强度的重要参数，它关系到雷达的探测能力和干扰抵抗力。旁瓣电平越低，雷达的主瓣方向性越好，干扰能力越强。文章提到了-40dB的旁瓣电平是在理想情况下，即无遮挡和完美反射面的状态。然而，实际中馈源尺寸、反射面的不精确性等因素会导致旁瓣电平上升，例如馈源直径为反射面直径的0.1倍时，旁瓣会上升至-28dB，同时影响口面利用率和系统增益。这些影响可以通过图5.7和图5.8直观理解。 图5.7展示了平均旁瓣电平如何随反射面精度变化，而图5.8则描绘了增益的变化情况。在这些图中，反射面的不完善状态通过误差有效值(F)体现，它是图5.7中误差(σ)的一半。此外，文中还提到使用多通道记录和对数视放输出来分析雷达信号的动态范围，这对于波形分析非常有用。 另一部分涉及电子情报（ELINT）和雷达信号分析的书籍介绍，作者Richard G. Wiley是电子战领域的专家，书中详细讨论了ELINT的基础知识，如定义、距离优势、噪声限制、截获概率和从信号参数推断雷达性能等主题。书中虽然可能缺乏最新技术，但作者的分析方法对于电子对抗的初学者和研究人员具有指导意义，特别是对于ELINT情报分析和电子对抗设备用户来说，可以作为有价值的教材。" 这段内容详细阐述了平均旁瓣电平与雷达系统性能的关联，以及在不同条件下旁瓣电平的变化如何影响雷达的效能。同时，提到了一本关于电子情报和雷达信号分析的专业书籍，强调了基础知识的重要性以及书中内容对电子对抗领域的实践指导价值。