JEDEC JESD8-21C-01 2022：1.35V伪开漏I/O标准

"JEDEC JESD8-21C-01 2022 POD135 - 1.35 V PSEUDO OPEN DRAIN I_O.pdf" 本文将详细解析JEDEC（固态技术协会）发布的JESD8-21C.01标准，该标准涉及的是2022年更新的1.35V伪开漏输出（Pseudo Open Drain）I/O接口。这一标准是2019年JESD8-21C标准的修订版，主要关注于电子设备之间的兼容性、互换性和性能提升。 JEDEC是一个国际性的组织，致力于制定半导体行业的标准，以促进制造商和购买者之间的沟通，减少误解，确保产品能够在全球范围内实现互换性，并帮助消费者快速准确地选择适用的产品。JEDEC的标准制定过程严谨，由董事会、法律顾问等多方面进行审查和批准。 JESD8-21C.01标准重点关注的是1.35V电压下的伪开漏输出I/O设计。开漏输出（Open Drain）是一种常见的数字逻辑门输出类型，其输出端口只能被拉低或呈高阻态，不能主动驱动高电平。这种设计允许通过外部上拉电阻来设置输出电平，提供了更大的灵活性。而“伪开漏”则是在这种基本结构基础上增加了一种内部上拉机制，使得在没有外部上拉电阻的情况下也能正常工作。 在1.35V电源电压下，这一标准可能涉及到低功耗应用，例如移动设备和嵌入式系统，其中电源效率和芯片尺寸是关键考虑因素。1.35V比传统的3.3V或5V电压更低，因此可以显著降低功耗，提高能效。同时，伪开漏特性在电路设计中提供了多路复用和信号级联的可能性，有助于简化电路布局和减少外部元件数量。 JESD8-21C.01标准的更新可能包括对原有规范的改进，例如增强信号完整性、提高抗噪声能力、优化电源管理，以及适应新的工艺技术变化。这些改进对于确保电子设备之间的可靠通信至关重要，特别是在高速数据传输和高性能计算领域。 标准的制定不考虑是否涉及专利问题，这意味着JEDEC不承担任何专利持有者的责任，也不对采用标准的各方产生任何义务。这鼓励了创新者在遵循标准的同时，可以继续发展和保护自己的知识产权。 JESD8-21C.01 2022 POD135 - 1.35 V PSEUDO OPEN DRAIN I/O标准是半导体行业中一个重要的技术参考，它定义了1.35V电压下伪开漏I/O接口的设计规范，旨在提高设备间的兼容性和能效，同时确保了制造商和消费者的权益。对于设计和应用低功耗、高性能数字系统的工程师来说，理解并遵循这个标准至关重要。