Agilent 93000 SOC Series：提升数字芯片测试的新平台

"本文主要介绍了ATE 93k，即Agilent 93000 SOC系列自动测试设备，这是一款用于数字芯片测试的高级系统。该设备采用模块化设计，能够适应各种类型的IC，包括纯数字IC、混合信号IC和SOC系统单芯片。其强大的功能包括320个数据通道，每个通道的数据速率高达660Mbps，以及丰富的向量内存和扫描内存。此外，ATE 93k还配备了四组仪器，包括两组任意波形发生器(AWG)和两组数字化仪，以支持模拟信号的生成和采集。" 在数字芯片测试领域，Agilent 93000 SOC系列测试系统是重要的工具，它提供了高效、灵活的测试解决方案。这款ATE(自动测试设备)的核心特点是模块化设计，允许用户根据不同的集成电路类型选择合适的模块，使得在一个统一的平台上进行多样的芯片测试成为可能。例如，对于纯数字IC，系统可以提供320个数据通道，每个通道的速率高达660Mbps，这样的高速度和高密度使得大规模并行测试得以实现，显著提升了测试效率。 在测试复杂性和多样性方面，ATE 93k也表现出色。它的向量内存每个通道可达28M向量，而在进行扫描测试时，由于扫描模式的波形变化较少，扫描内存容量可扩展到84M向量，满足了深度和复杂性的需求。对于混合信号和模拟芯片的测试，系统配备了两组任意波形发生器(AWG)，具有16位分辨率和30 Msps/12位分辨率、500 Msps的采样率，能够生成各种复杂的模拟信号。同时，两组数字化仪具有16位分辨率，用于捕获和分析混合信号或模拟芯片产生的信号，以获取精确的测量结果。 此测试系统的引入，对于提升学术界和产业界的芯片测试环境有着显著作用。通过CIC（文中未具体说明的机构）引进的Agilent 93000 SOC系列，可以预期将提供一个更加先进和稳定的服务平台，为芯片设计和研发带来更高质量的测试服务。文章简要地阐述了测试设备的基本结构和功能，对于了解和使用该系统进行数字芯片测试有着基础指导意义。