线性反馈移位寄存器在BIST中的应用研究

资源摘要信息: "***_ieeepaper_feedbacklinear_" 本文档是一篇与IEEE相关的工作论文，其标题为“***_ieeepaper_feedbacklinear_”，描述了关于“linear feedback shift register for bist”的研究。该论文的主题是线性反馈移位寄存器（LFSR）在内置自测试（BIST）中的应用。LFSR是一种在数字逻辑中广泛使用的序列生成器，常用于各种应用，包括生成伪随机数序列、用于加密和通信系统中的序列检测等。BIST是芯片设计中的一种测试技术，可以在无需外部测试设备的情况下对集成电路的功能进行验证。 以下是对文档内容的知识点详细说明： 1. 线性反馈移位寄存器（LFSR）基础： LFSR是一种移位寄存器，其中的移位操作与反馈逻辑相结合，以生成一个周期性的伪随机二进制序列。LFSR的长度（寄存器的位数）和反馈函数决定了序列的周期长度。LFSR可用于多种应用，包括数字系统设计、信号处理、加密算法和伪随机数生成等。 2. LFSR的工作原理： 在一个n位的LFSR中，每个时钟周期内，寄存器的内容都会向右移动一位。移出的位通过反馈函数计算后重新输入到寄存器的最高位。反馈函数通常是一个或多个寄存器位的异或（XOR）操作。当反馈函数正确设计时，LFSR可以生成最大周期长度的序列，即2^n-1个状态，其中n是寄存器的长度。 3. 内置自测试（BIST）的定义： BIST是集成在集成电路内部的测试机制，它可以在芯片制造过程中以及产品使用期间，用于检测和诊断芯片内部的故障。BIST技术的主要优点是能够在没有外部测试设备的情况下运行，降低了测试成本，并提高了测试的便捷性。 4. LFSR在BIST中的应用： 在BIST架构中，LFSR可以作为伪随机测试模式生成器来使用。它能够生成大量的测试向量，这些向量覆盖了芯片中各个逻辑单元的功能，确保了对电路故障的全面测试。使用LFSR可以大幅缩短测试时间和提高测试覆盖率。 5. 标准化和文档的重要性： 文档标题中的“ieeepaper”指明了本文档是IEEE（电子电气工程师协会）发表的论文，这通常意味着文档内容经过了同行评审，并且满足了一定的学术和研究标准。IEEE是全球最大的专业技术组织之一，在电气和电子工程领域具有极高的权威性和影响力。 6. 关键词解读： - IEEE paper：表明这篇文章是发表在IEEE期刊或会议上的一篇研究论文。 - feedbacklinear：指明了研究的重点是线性反馈这一主题，很可能是在探讨反馈函数的设计与实现。 综上所述，这篇IEEE论文涉及的主题是线性反馈移位寄存器（LFSR）在内置自测试（BIST）技术中的应用。LFSR作为一种高效的序列生成器，在BIST中扮演着重要的角色，能够提高集成电路测试的效率和可靠性。通过这篇论文，研究者可以了解到LFSR的设计方法、如何应用于BIST中以及相关的测试策略和优化方法。