Hi3559V100/Hi3556V100 快速启动优化：删除调试信息

"删除调试信息-蓄电池充放电装置中双向ac/dc变流器的研究" 本文主要探讨了在海思Hi3559V100/Hi3556V100芯片平台上的启动优化策略，特别是针对调试信息的处理，这对于提高设备的启动速度和减少内存占用至关重要。在产品进入量产阶段时，为了达到最佳性能，需要关闭或删除不必要的调试信息。 首先，"删除打印"是优化的关键一步。调试信息在启动过程中打印会严重影响系统的启动速度，尤其是在大量生产的产品中，这不仅拖慢了启动时间，还增大了镜像文件的大小，延长了镜像加载时间。Hi3559V100/Hi3556V100的参考设计说明中提到，可以通过设置CFG_DEBUG_LOG_ON开关宏来禁用APP中的打印。然而，需要注意的是，这个开关宏目前只能控制APP层的打印，无法影响NDK（Native Development Kit）和MW（Middleware）的打印控制。 其次，使用"release库"也是优化措施之一。在开发包的./build/config.mak文件中，将CFG_VERSION宏设置为yes，可以启用release版本的NDK和MW库。Release版本通常去除了调试信息，从而提高了执行效率和降低了内存占用。 此外，关闭串口输出是另一种有效的优化方法。即使镜像中含有调试信息，关闭串口输出也能显著减少启动速度的影响，仅会比删除打印信息的版本慢约30毫秒。华为LiteOS的APP提供了"startup_log"功能，允许在开机后控制打印的开启或关闭，这在开发调试时非常有用，可以在不影响启动性能的情况下查看系统启动状态。 文档还提到了快速启动优化指南，主要针对Hi3559V100和Hi3556V100这两款芯片，适用于需要快速启动的应用场景。这些优化手段包括但不限于删除调试信息，可以按照具体产品需求选择并进行严格的验证。但是，任何优化操作都有可能带来潜在的风险，需要谨慎对待。 为了提升海思芯片驱动的设备启动速度和运行效率，开发者需要关注调试信息的管理，通过删除打印、使用release库和关闭串口输出等方式进行优化，同时遵循官方提供的快速启动指南，确保优化过程的正确性和安全性。在进行这些操作时，需要充分理解其可能带来的影响，并结合实际项目需求进行决策。