3700A系列高性能系统开关与自动化测试解决方案

"3700系列系统开关是一款高性能的多通道测量和切换解决方案，专为电子产品的自动化测试设计。该系统集成了多种接口，包括Ethernet、USB和GPIB，支持远程PC控制，并配备有TestScript Processor (TSP) 技术，提供卓越的系统自动化、吞吐量和灵活性。通过TSP-Link技术，可以实现与2600系列源表SMU仪器的无缝连接和系统扩展。此外，系统还具备高速数据读取能力，最高可达每秒14,000次读数，并具有LXI接口及嵌入式Web浏览器界面，便于测试设置、维护和基本应用控制。" 详细知识点： 1. **系统架构**：3700系列采用多处理器架构，优化了高吞吐量扫描和模式切换应用，确保在自动化测试中提供高效性能。 2. **主框架**：该系统具有六插槽系统开关主框架，可选配高性能多米器，能够满足复杂的测试需求。 3. **接口功能**：系统支持多种通信接口，如Ethernet、USB和GPIB，允许远程PC控制，提供了灵活的连接选项。 4. **通道配置**：在一个主框架内，最多可提供576个两线制或720个一线制多路复用器通道，以及2,688个单极矩阵交叉点，适用于大规模的开关配置。 5. **TSP技术**：内建的TestScript Processor（TSP）提供无与伦比的系统自动化、吞吐量和灵活性，使得测试脚本编写和执行更加便捷。 6. **系统扩展**：TSP-Link技术允许主/从设备连接，方便系统扩展，与Series 2600和2600B SourceMeter SMU仪器之间的无缝连接。 7. **高速数据处理**：当配合选配的高性能多米器时，系统能够每秒处理超过14,000次读数，显著提高了数据采集速度。 8. **LXI接口**：系统内置LXI（LAN eXtension for Instrumentation）接口，提供了一个嵌入式Web浏览器界面，用于测试设置、维护工作以及基本的应用程序控制，简化了操作流程。 9. **应用领域**：3700系列系统开关主要应用于电子产品的自动化测试，包括但不限于半导体、元器件、电路板和其他电子组件的质量控制和性能验证。 10. **仪器级切换**：该系统提供的不仅是切换功能，还包括多通道测量解决方案，确保了在整个测试过程中具备仪器级别的精度和可靠性。 3700系列系统开关是针对高要求自动化测试环境设计的一款强大工具，其强大的硬件配置、先进的软件功能和丰富的扩展能力使其成为实验室和生产线上不可或缺的一部分。特别是对于那些需要大量开关操作和快速数据采集的电子测试应用，3700系列能够提供卓越的性能和效率。