基于扫描停用的BAST方案：降低测试成本与功耗

本文发表在《IEICE Electronics Express》第九卷第二期，探讨了一种新颖的基于扫描门控的自测辅助扫描测试（BIST-Aided Scan Test, BAST）方案，其目标是降低测试成本和功耗。该研究由Zhiqiang You、Weizheng Wang、Peng Liu、Jishun Kuang 和 Zheng Qin 等作者共同完成，分别来自湖南大学信息科学与工程学院和美国加州大学圣巴巴拉分校电气与计算机工程系。 BAST方案的核心在于利用线性反馈移位寄存器（Linear Feedback Shift Register, LFSR）和额外输入来生成针对多条扫描链的测试向量。这种生成过程依赖于一个确定性的测试集，其中包含部分“don’t care”位。为了提高效率，文中提出了一种hold逻辑，它位于LFSR和扫描链之间。当hold逻辑接收到与下一个片元兼容的保持向量时，它会暂停LFSR的输出，从而节省电力并减少不必要的数据传输。 通过hold操作，hold逻辑能够从生成的向量中选择最佳测试序列。当需要进行测试时，只有那些与当前片元匹配的向量才会被送入扫描链，实现了扫描门的动态控制，显著减少了测试数据量和扫描功耗。这种技术的优势在于它能够灵活地适应不同片元的需求，同时减小了传统测试方法中的冗余和浪费。 这项研究为设计高效能的集成电路测试策略提供了创新思路，特别是在关注测试成本和能耗的现代电子行业中，具有重要的应用价值。通过集成hold逻辑和扫描门控制，BAST方案有望在保持测试质量的同时，实现测试流程的优化和资源的有效利用。