OTA测试方法：远场、紧缩场与近场分析

"Chamber and Station test.pptx" 在无线通信领域，天线设计与测试是至关重要的环节，确保设备的辐射性能达到预期标准。本资料详细介绍了不同类型的天线测试方法，包括远场测试、紧缩场测试和近场测试，以及它们各自的特点和应用场景。 远场测试是根据电磁理论，当被测设备与接收天线的距离大于或等于2倍直径的平方除以波长时，测试环境满足远场条件。在这种测试中，设备被置于高支架上，通过暗室、转轴控制器、射频测试仪器、测量/通讯天线和自动化测试软件来完成。例如，CTIA的OTA测试系统就是典型的远场测试系统，其优点在于能够直接测量天线的远场特性，适用于大多数无线设备的辐射性能评估。 紧缩场测试则是一种室内远场测试，它通过反射板将信号转化为平面波，以满足远场条件，但所需的测试空间较小。这种方式降低了对测试空间的需求，但对反射板的制造精度要求极高，尤其是对于大尺寸设备，反射板的制作和成本都会成为挑战。 近场测试则在天线的近场区内进行，通过对辐射场的幅度和相位信息进行扫描，利用模式展开理论计算出近场特性，并通过近场-远场变换得到远场特性。近场测试分为平面近场、柱面近场和球面近场，每种都有其适用的场景。例如，平面近场测试适合高度定向的天线，但可能在覆盖方向图的测量上存在局限性。 在实际应用中，4G测试常使用的设备如OSP130/150，它们在设备内部的布线布局中起到关键作用，确保功率传输的有效性和稳定性。EtherOTA所采用的多探头测试方式，类似于平面近场测试，可以更有效地测量定向天线的增益和覆盖范围。 选择合适的天线测试方法取决于设备的特性和测试需求。远场测试适用于大部分情况，而紧缩场和近场测试则在特定条件下提供了一种更经济或精确的解决方案。理解这些测试方法及其优缺点对于优化无线设备的设计和性能至关重要。