彩色物体形貌测量：基于波长分离的高精度结构光系统

"基于波长分离的结构光采集系统" 本文探讨了一种新型的结构光采集系统，该系统旨在解决传统彩色结构光系统在测量彩色物体时存在的问题，如颜色通道间的串扰导致的精度降低。传统的彩色结构光系统通过彩色投影机和摄像机的三个颜色通道同时投影和采集条纹图像，以此来实现形貌测量。然而，由于无法区分不同颜色通道的信息，这种方法不适用于彩色物体的测量，并且可能因为通道间的干扰而影响测量精度。 为了解决这些问题，研究者提出了一种创新方案，采用三个独立的摄像机分别对应三个颜色通道进行采集。此外，他们还引入了精心设计的分色棱镜和滤光片，以有效地消除不同波长之间的颜色串扰。这一改进的结构光系统基于三步位移法，通过拍摄两次图像来获取彩色物体的形貌信息。具体来说，通过位移条纹图案并分析两次拍摄的图像差异，可以精确地恢复出彩色物体的三维形状。 为了确保系统的准确性和可靠性，作者还提出了相应的校正方法，以补偿可能存在的系统误差和失真。通过这些校正步骤，该系统能够在仅拍摄两次的情况下，获取到彩色物体的高精度形貌信息，极大地提高了测量效率和准确性。 关键词涵盖的领域包括测量技术、相位测量、轮廓测量、结构光编码、以及颜色分离技术。这些关键概念在文中被详细阐述，展示了如何将它们集成到改进的结构光系统中，以克服现有技术的局限性。通过这种创新的设计，科研人员和工程师能够开发出更精确、更适应彩色物体形貌测量的应用，进一步推动光学测量技术的发展。 这篇论文发表在《光学学报》第32卷第6期，为光学测量领域的研究提供了新的思路和解决方案，对提高三维成像和形貌测量的性能具有重要意义。通过深入理解这一系统的工作原理和实施细节，相关领域的研究人员和从业者可以借鉴并应用这些技术，以提升自己的项目或产品的测量精度和功能。