华为射频可测试性设计规范详解

"华为射频可测试性设计规范是一份由华为技术有限公司制定的内部技术规范，旨在指导射频设计开发过程中的可测试性设计，确保产品的质量和可靠性。该规范涵盖了射频集成电路（ICT）和功能测试（FT）的可测试性设计要求，整合了《ICT可测试性设计规范》和《FT可测试性设计规范》的内容，适用于射频单板的设计。规范于2005年9月发布并实施，由无线装备部和无线基站开发管理部等相关专业团队起草和评审。" 本文档详细列出了射频单板在ICT测试点设计时应遵循的规则，包括针对不同射频器件的DFT（Design for Testability）设计标准。例如： 1. 射频放大器和场效应管放大器的DFT设计，考虑了测试接入点的位置和方式，以确保放大器性能的准确评估。 2. MMIC射频开关的测试设计，要求能够验证开关的导通和截止状态，以及开关速度和损耗等关键参数。 3. MMIC射频衰减器的测试设计，需确保能够测量其衰减量和频率响应特性。 4. VCO（电压控制振荡器）的测试点设计，关注振荡频率范围、频率稳定性和控制电压线性度。 5. 射频锁相环的DFT设计，包括检测锁定状态、频率跟踪精度和噪声性能。 6. 集成频率综合器的测试，需要测试频率设置范围、步进精度和相位噪声。 7. 滤波器的DFT设计，涉及通带、阻带特性以及插入损耗的测量。 8. 射频调制器的测试设计，涵盖调制深度、频偏和失真度的验证。 9. 隔离器和环行器的DFT设计，关注其隔离度和双向传输性能。 10. 阻抗变换器的测试，确保匹配效果和传输损耗。 11. 射频混频器的测试，涉及转换增益、二次和三次谐波失真等。 12. 功分器和耦合器的DFT设计，要求能测量功率分配比例和相位一致性。 13. 功放过流告警电路的测试，确保在过载情况下能正确触发保护机制。 此外，规范还提到了与国际规范的一致性、替代或作废的其他规范以及相关规范之间的关系，强调了射频可测试性设计在整个产品生命周期中的重要性，旨在提高生产效率，降低维护成本，提升产品的质量和市场竞争力。